电阻器的主要失效因素

   电阻器失效可分为两大类，即致命FBMH1608HM601-T失效和参数漂移失效。从现场使用失效统计表明，电阻器失效的原因85%～90%属于致命性失效，如断路、机械损伤、接触损坏、短路、绝缘击穿等，只有10%左右由阻值漂移导致。

   导致电阻器失效的因素主要有如下几个方面。

   (1)导电材料结构的变化

   对于薄膜型非线绕电阻，以沉积方法得到的导电膜层中存在无定形结构。在通常环境条件下或工作条件下，无定形体将以或高或低的速度向结晶化趋势发展，这个过程将导致电阻值的变化，特别是对精密电阻器会因此而造成失效。

   对于线绕电阻器，在制造过程中合金电阻线会受到各种机械应力的作用导致内部结构发生某些畸变，这种畸变会随时间逐步消失。然而，由此将导致电阻线的电阻发生变化。

   (2)吸附效应的影响

   在非线绕电阻器导电体的晶粒界面上，会吸附一定数量的气体，从而构成了晶粒间的中间层，这将影响其阻值。在工作或存放期间由于吸附气体的逐渐释放，导致阻值的变化。当电阻器具有强烈的气体吸附效应时，其工作初期极不稳定，但经过长期搁置之后其阻值会逐步趋于稳定。电阻器气体吸附和解吸过程从表面到体内逐渐减弱，因此对薄膜电阻器影响就比较明显。