此式就是解释加速曲线的阿伦尼斯方程，可以看出：电子元器件或材料产生一定百分比失效时间（或寿命）￡的对数与其所施加温度的倒数呈线性关系， C052K101K2X5CA7301这可通过单边对数纸描图来得到。从lg￡～{曲线的斜率B一景lge，可以确定出激活能E 用阿伦尼斯方程来解释器件的高温储存寿命试验是非常成功的，激活能E与方程的斜率B和器件的失效模式及失效机理有关。根据多年来的实践积累，有关半导体器件与微电路不同失效模式与机理的激活能数据列于表3. 16中。

    表3 16  失效模式、失效机理与激活能

   以激活能E作为参数，可以绘出不同E时温度与寿命的关系，如图3. 17所示。可见，激活能越大，曲线倾斜越大，与温度的关系越密切。