对飞机上电子设备用的某种电子元器件进行现场无替换试验
发布时间:2015/6/22 19:42:36 访问次数:1481
即抽取66个元件进行额定试验,抽取7个进行加速试验,在2000小时后看失效数是否大于1。若r≤1时,则鉴定合格;若r>l,则鉴定不合格。 MAX3485ESA+这里计算ni、咒。时,分别多加1个,这是考虑到试验过程中允许发生一只失效,若不多投入1只样品进行试验,则到2000小时时不能累计达到所需T。值,在近似值取值时,也是不足1时,均要取1。
翻腱胁某型号电阻已逦过5级定级试验(置信度为60%,C=l,抽取102个样品试验了2000小时,样品无1个失效)。现要进行6级的升级鉴定,准备将5级试验的102个样品继续试验到10000小时,另外,每月再抽取若干个样品投入试验,要求与原来的102个
样品共同达到10000小时之后试验结束,并得出结论,问升级试验方案如何安排?
解:
设升级试验的置信度取60%,允许失效数C=l,查表3.20可得因为对102个样品继续试验到10000小时,可以得到累计试验时间为
Ti—102×10000 - 1020000(元件小时)尚少T2一2020000 -1020000一l06元件小时,需要从每月产品中抽取样品投入试验来完成。
因为从开始每月抽取样品到试验结束还要试验8000小时,约近一年时间,若每月抽取K个样品,那么第1个月可累计试验时间为720K元件小时,第2个月可累计2×720K元件小时,……第12个月可计12×720K元件小时,显然12个月中,每月抽K只,试验结束共累计时间选K=18,即只要每月抽取18个样品投入试验,1,则升级试验合格,否则升级试验不合格。
习题
到试验结束后,总的失效样品数
1.对飞机上电子设备用的某种电子元器件进行现场无替换试验,其元件数n=39,记录下 9次失效时间分别为:423,1090,2386,3029,3652,3925,8967,10957,11358小 时,求该电子元器件在飞机上使用的平均寿命、失效率及其在置信度90%下的平均寿命 区间估计值。
2.设某种晶体管共232个,在飞机环境下工作61小时,3个失效,求该晶体管在试验条件下平均寿命的点估计值。
3. 3DK 7晶体管88个,在200℃进行高温储存2000小时,试验发现失效产品数与失效时间如下表所示:
求其点估计和区间估计的平均寿命值(区间估计采用90%置信度)。
即抽取66个元件进行额定试验,抽取7个进行加速试验,在2000小时后看失效数是否大于1。若r≤1时,则鉴定合格;若r>l,则鉴定不合格。 MAX3485ESA+这里计算ni、咒。时,分别多加1个,这是考虑到试验过程中允许发生一只失效,若不多投入1只样品进行试验,则到2000小时时不能累计达到所需T。值,在近似值取值时,也是不足1时,均要取1。
翻腱胁某型号电阻已逦过5级定级试验(置信度为60%,C=l,抽取102个样品试验了2000小时,样品无1个失效)。现要进行6级的升级鉴定,准备将5级试验的102个样品继续试验到10000小时,另外,每月再抽取若干个样品投入试验,要求与原来的102个
样品共同达到10000小时之后试验结束,并得出结论,问升级试验方案如何安排?
解:
设升级试验的置信度取60%,允许失效数C=l,查表3.20可得因为对102个样品继续试验到10000小时,可以得到累计试验时间为
Ti—102×10000 - 1020000(元件小时)尚少T2一2020000 -1020000一l06元件小时,需要从每月产品中抽取样品投入试验来完成。
因为从开始每月抽取样品到试验结束还要试验8000小时,约近一年时间,若每月抽取K个样品,那么第1个月可累计试验时间为720K元件小时,第2个月可累计2×720K元件小时,……第12个月可计12×720K元件小时,显然12个月中,每月抽K只,试验结束共累计时间选K=18,即只要每月抽取18个样品投入试验,1,则升级试验合格,否则升级试验不合格。
习题
到试验结束后,总的失效样品数
1.对飞机上电子设备用的某种电子元器件进行现场无替换试验,其元件数n=39,记录下 9次失效时间分别为:423,1090,2386,3029,3652,3925,8967,10957,11358小 时,求该电子元器件在飞机上使用的平均寿命、失效率及其在置信度90%下的平均寿命 区间估计值。
2.设某种晶体管共232个,在飞机环境下工作61小时,3个失效,求该晶体管在试验条件下平均寿命的点估计值。
3. 3DK 7晶体管88个,在200℃进行高温储存2000小时,试验发现失效产品数与失效时间如下表所示:
求其点估计和区间估计的平均寿命值(区间估计采用90%置信度)。
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