按规定条件（额定或加速）进行试验，直到达到累计的元件小时T。时为止。

   关于额定或加速试验问题，MAX3237EAI+T我国国标GB 1772-1979电子元器件失效率试验方法中已经明确加以规定，之所以这样规定，是因为确定失效率等级的试验工作量较大，所需试验的元件小时数随失效率的减少而成比例地增高，采用加速试验可以缩短试验时间。但是，为了使鉴定的结论准确可靠，必须要求加速试验的失效机理与额定试验的失效机理相同，加速系数比较准确。在目前这两个问题还没有充分解决的前提下，采用加速试验和额定试验同时进行的办法，而且保证额定试验的元件小时数有相当的比例。

   将试验中出现的失效数r与允许失效数C比较，若r≤C，则定级试验合格；若r>C，则定级试验不合格。

    当定级试验合格的产品投入批量稳定生产后，就不必再按上述定级试验程序来判断产品是否保持原鉴定的失效率等级，而只需要按规定的维持周期进行该等级的维持试验。逮是因为失效率等级鉴定方案所要求的总试验元件小时数较大，多次进行这样的鉴定是有实际困难的。另外，在定级试验中，试验一般都要求得严一些，也就是，产品实际失效率比该级允许的最大失效率低得多。在严格按规范要求进行生产时，就不必每批都进行定级试验。维持周期分工、Ⅱ组，如表3. 22所示，其程序如下：

    表3 22维持试验抽样表