为了研究电子元器件的可靠性，AN87C54就要掌握元器件失效的客观规律，分析产品的失效原因，以便进一步提高元器件的可靠性。

   虽然每个电子元器件的失效是个随机事件，并且是偶然发生的，但大量元器件的失效却呈现出一定的规律性。从产品的寿命特征来分析，大量使用和试验结果表明，电子元器件失效率曲线的特征是两端高，中间低，呈浴盆状，习惯称为“浴盆曲线”，其形状如图2.3所示。

   图2.3  电子元器件的失效规律

   从曲线上可以看出，电子元器件的失效率随时间的发展变化大致可以分为三个阶段：即早期失效期、偶然失效期、耗损（磨损）失效期。在不同时期产品呈现不同的失效规律，尽管给电子元器件施加的应力没有变。