试验截止时间是寿命试验中的主要难点，它与样品数量及所达到的失效数有关。 C0402KRX7R7BB103由于一般电子元器件寿命都非常长，加之试验数据采用统计分析方法，故采用截尾试验。对于低应力下的寿命试验，常采用定时截尾试验，即试验达到规定时间停止试验，般要求截止时间￡为平均寿命的1.6倍以上，如采用1000小时、5000小时或10000小时等；对于高应力下的寿命试验，常采用定数截尾试验，即当累计失效数或累积失效概率达到规定值，一般应在30%、40%或50%以上时停止试验。试验停止时间一经确定，在试验过程中不得变动，以保证统计处理的正确性。

   对于指数分布，肖采用定数截尾试验时，试验时间f与试验样品数卵和所要求达到的失效概率F(t)一寺，可由下式确定只要估计出产品在该试验条件下的平均寿命m，即可估计出试验需时间。

   制定失效标准和失效判据

   如前所述，失效标准的制定就是明确判断产品失效的技术指标，其可以是产品完全失效，如击穿、开路、短路、烧毁等，也可以是部分失效，即产品的性能超过某种确定的界限，但没有完全丧失规定功能的失效。一个产品往往有好几项技术指标或性能参数，在寿命试验中规定：只要产品有一项指标或参数超出了标准就判为失效。例如，陶瓷电容器的主要技术指标有电容量的相对变化率等、绝缘电阻R、损耗角正切tan8、耐压等，只要这些指标中有一项超出了规定，就应判为失效。如没有特殊规定，通常都是以产品技术规范中所规定的技术标准作为失效标准的判据。