CB14型精密聚苯乙烯电容器的可靠性筛选
发布时间:2015/6/20 15:00:30 访问次数:866
某厂坐产的精密聚苯乙烯电容器在生产中经过2. 5—3VH(额定电压)的工艺筛选,CYT2508-LF但试验和使用时仍发现早期电击穿短路失效现象,经过逐步解剖击穿试样分析,发现击穿主要原因基本是:辅助硬引线安置不当造成头与头之间的距离太近;打偏引线尾部产生气隙;打偏引线由于电焊引起毛刺或金属溅射导致电场集中;介质薄膜有缺陷等。这些诸多因素中,尤其以引线头部存在尖端和毛刺,以及薄膜材料的缺陷造成早期失效的居多。因此,根据损坏原因,主要从材料和工艺上采取措施来解决。同时,也可采用电压筛选的方法来剔除早期失效产品。通过一批样品进行电击穿试验,做出样品击穿电压分布,如图3. 11所示,从图3.11中可以发现,击穿分布属于两个正态分布,第一个正态分布曲线主要针对由于引线头部击穿所导致的早期失效产品;第二个正态分布曲线针对属于产品的正常损坏。对于CB14 - 100V-8000pF±o.5%规格的样品,试验表明两正态分布的相交处所对应的击穿电压是2000V。根据这样的分析,可以确定电压筛选方案:室温、2000V直流电压、1分钟。
按照上述分析方法,可以确定不同厂家、不同产品的筛选工艺方案,如表3. 15历示,注意金属化纸介电容器存在自愈特性,在1. 5VH下电容器自愈效果最好,这样既可以起到筛选作用,又可以起到稳定电性能的作用。而早期失效产品可以通过在低负荷下无法自愈来加以暴露,达到筛选的目的。
某厂坐产的精密聚苯乙烯电容器在生产中经过2. 5—3VH(额定电压)的工艺筛选,CYT2508-LF但试验和使用时仍发现早期电击穿短路失效现象,经过逐步解剖击穿试样分析,发现击穿主要原因基本是:辅助硬引线安置不当造成头与头之间的距离太近;打偏引线尾部产生气隙;打偏引线由于电焊引起毛刺或金属溅射导致电场集中;介质薄膜有缺陷等。这些诸多因素中,尤其以引线头部存在尖端和毛刺,以及薄膜材料的缺陷造成早期失效的居多。因此,根据损坏原因,主要从材料和工艺上采取措施来解决。同时,也可采用电压筛选的方法来剔除早期失效产品。通过一批样品进行电击穿试验,做出样品击穿电压分布,如图3. 11所示,从图3.11中可以发现,击穿分布属于两个正态分布,第一个正态分布曲线主要针对由于引线头部击穿所导致的早期失效产品;第二个正态分布曲线针对属于产品的正常损坏。对于CB14 - 100V-8000pF±o.5%规格的样品,试验表明两正态分布的相交处所对应的击穿电压是2000V。根据这样的分析,可以确定电压筛选方案:室温、2000V直流电压、1分钟。
按照上述分析方法,可以确定不同厂家、不同产品的筛选工艺方案,如表3. 15历示,注意金属化纸介电容器存在自愈特性,在1. 5VH下电容器自愈效果最好,这样既可以起到筛选作用,又可以起到稳定电性能的作用。而早期失效产品可以通过在低负荷下无法自愈来加以暴露,达到筛选的目的。
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