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CCD法测量激光光束质量的装置原理

发布时间:2015/5/21 19:04:50 访问次数:1238

   例1-3图1-7所示为CCD法测量激光光束质量的装置原理图。这是实验中常用来测量激光束宽的一种方法,用CCD像机测量和记录激光柬光强分布,MAX1016CS并配以计算机数值图像处理系统,可快速得到被测激光光束的束散角。如果去掉高像质的准直透镜,直接测量光束光强分布就可得到包括束宽在内的激光光束参数。考虑到光束较强时对CCD靶面的损伤,一般在CCD靶面前加装衰减器。

   同样可列举其他一些光电测量方面的例子。如果仅仅作为一台测量仪器,而不是作为自动化生产过程中的一个检测环节,那么不论最后的显示值以什么形式给出,光电系统或光电仪器的组成框图均可用图1-4、图1-6及图1-8来表示。三者的区别仅在于测

量方法、测量目标(被测对象、信息源)的远近程度以及信息源的性质,如信息源为非自发光体(即不能产生有效光辐射),此时仪器中需要加光源或照明系统,结构形式如图l-6所示,若信息源为自发光体可采用图1-8组成形式。对于一些复杂参数的测量,或者对像三坐标测量机等复杂测量仪,则在感受信号到显示之间,往往还有一套数据加工和处理的环节。除此之外,有些系统中,还有一些校正值要加到显示值申去(图1-4)。这些校正值,或根据测量得来,或事先预置。

     


   例1-3图1-7所示为CCD法测量激光光束质量的装置原理图。这是实验中常用来测量激光束宽的一种方法,用CCD像机测量和记录激光柬光强分布,MAX1016CS并配以计算机数值图像处理系统,可快速得到被测激光光束的束散角。如果去掉高像质的准直透镜,直接测量光束光强分布就可得到包括束宽在内的激光光束参数。考虑到光束较强时对CCD靶面的损伤,一般在CCD靶面前加装衰减器。

   同样可列举其他一些光电测量方面的例子。如果仅仅作为一台测量仪器,而不是作为自动化生产过程中的一个检测环节,那么不论最后的显示值以什么形式给出,光电系统或光电仪器的组成框图均可用图1-4、图1-6及图1-8来表示。三者的区别仅在于测

量方法、测量目标(被测对象、信息源)的远近程度以及信息源的性质,如信息源为非自发光体(即不能产生有效光辐射),此时仪器中需要加光源或照明系统,结构形式如图l-6所示,若信息源为自发光体可采用图1-8组成形式。对于一些复杂参数的测量,或者对像三坐标测量机等复杂测量仪,则在感受信号到显示之间,往往还有一套数据加工和处理的环节。除此之外,有些系统中,还有一些校正值要加到显示值申去(图1-4)。这些校正值,或根据测量得来,或事先预置。

     


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