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筛选一般应是非破坏性试验

发布时间:2015/6/20 14:48:40 访问次数:565

   筛选方法的确定,CS51414EDR8G对于不存在缺陷而性能优良的产品应该是一种非破坏性试验;对于有潜在隐患的产品则起到加速暴露、筛选淘汰的目的。

   筛选条件的适应性

   筛选条件不是固定不变的,随着产品结构、材料、工艺的不断改进以及失效模式的变化而不同,不能随便硬性地规定或搬用其他厂家的方法。

   通过长期可靠性试验与可靠性筛选的摸底试验资料分析,可以找到各种电子元器件不同类型与最佳筛选参数的对应关系;找出产品的不同类型与失效机理的对应关系;失效机理或失效形式与筛选项目的对应关系等。例如,电阻类型与最佳筛选参数的关系如表3. 12所示。

   表3. 12  电阻类型与最佳筛选参数的关系

  


   筛选方法的确定,CS51414EDR8G对于不存在缺陷而性能优良的产品应该是一种非破坏性试验;对于有潜在隐患的产品则起到加速暴露、筛选淘汰的目的。

   筛选条件的适应性

   筛选条件不是固定不变的,随着产品结构、材料、工艺的不断改进以及失效模式的变化而不同,不能随便硬性地规定或搬用其他厂家的方法。

   通过长期可靠性试验与可靠性筛选的摸底试验资料分析,可以找到各种电子元器件不同类型与最佳筛选参数的对应关系;找出产品的不同类型与失效机理的对应关系;失效机理或失效形式与筛选项目的对应关系等。例如,电阻类型与最佳筛选参数的关系如表3. 12所示。

   表3. 12  电阻类型与最佳筛选参数的关系

  


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6-20筛选一般应是非破坏性试验

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