其次是电子设备的使用环境日益严酷，现已从试验室到野外，从热带到寒带，从陆地AM29F010-45EC到深海，从高空到宇宙空间，经受着不同的环境条件，除温度、湿度影响外，海水、盐雾、冲击、振动、宇宙粒子、各种辐射等对电子元器件的影响，导致产品失效的可能性增大。

   最后，电子设备单位面积（体积）上电子元器件的装置密度不断增加。从第一代电子管产品到第二代晶体管，现已从小、中规模集成电路到大规模和超大规模集成电路，电子产品正朝着小型化、微型化方向发展，其结果导致装置密度的不断增加，从而使内部温升增高，散热条件恶化。而随环境温度的升高，电子元器件可靠性将降低，因而元器件的可靠性引起人们的极大重视。

   长期以来，人们只用产品的技术性能指标作为衡量电子元器件质量好坏的标志，这只反映了产品质量好坏的一个方面，还不能反映产品质量的全貌，面对日益复杂的电子设备，从可靠性设计、可靠性测试到可靠性管理，对可靠性数学的要求日趋深化，需要定量地对产品的可靠性指标进行考核、检验和标定，从而提高产品的可靠性，在使用寿命内使其技术性能得到发挥。从某种意义上说，可靠性数学是产品质量的理论基础。