由前述定义可以看出，探测DAC7513E/250G4器的性能越好NEP的值越小。为了合乎习惯取NEP的倒数定义为探测度D( Detectivity)，其单位为W。1，即

   D= 1/NEP    (5-5)

   当用探测度来表征器件时，必须说明人射辐射的波长、探测器的工作温度、斩波器的频率、器件上所加的偏置电流、探测器的面积、放大器的带宽。

   辐射源通常是在标准温度(通常是500K)下的黑体。探测器总是选在容易达到的温度工作。例如通常的环境温度为300K，固体C02的温度为195K，液氮的测试为77K等。调制频率选得足够低以使探测度不受器件时间常数的限制。

    探测度对于比较不同的器件来说不是一个理想的参量。因为探测度和敏感区的面积和带宽Af的平方根成反比，所以引入了比探测度(Specific Detectivity)来克服这个缺点。比探测度的表达式为

量噪声的带宽取为1Hz的条件下测量的。

   比探测度可以比较不同尺寸的探测器。探测器的噪声一般来说和它的敏感部分的面积的平方根成比例，这时候用比探测度来作比较很合适。但是有些探测器的探测度不与AⅣz成比例，如高莱管、热辐射计、金属一氧化物一金属结器件等。对于这类器件采用NEP或D作比较。