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位置:首页 > IC型号导航 > 首字符I型号页 > 首字符I的型号第1页 > IS62C256
IS62C256
32K ×8低功耗CMOS静态RAM
特点
访问时间: 45 , 70纳秒
低有功功率: 200毫瓦(典型值)
低待机功耗
— 250
W
(典型值) CMOS待机
- 28毫瓦(典型值) TTL待机
全静态操作:无时钟或刷新
需要
TTL兼容的输入和输出
单5V电源
ISSI
描述
ISSI
IS62C256是一款低功耗, 32,768字由8位
CMOS静态RAM 。它是使用制造
ISSI
的高
高性能,低功耗CMOS技术。
CS
为高(取消) ,器件处于待机
模式,在其中的功耗可被降低至
250
W
(典型值) ,在CMOS输入电平。
易存储器扩展是通过使用低有效提供
片选(
CS
)输入和一个低电平有效输出使能(
OE
)
输入。该低电平有效写使能(
WE
)控制两种写作
和读取内存。
该IS62C256与其他32K ×8的SRAM的管脚兼容
塑料SOP或TSOP (I型)封装。
功能框图
A0-A14
解码器
32K ×8
存储阵列
VCC
GND
I / O
数据
电路
I/O0-I/O7
列I / O
CS
OE
WE
控制
电路
ISSI保留随时更改其产品在任何时候,恕不另行通知,以改进设计和提供最好的产品的权利。我们对任何错误概不负责其
可能出现在本出版物中。 版权所有1999年,集成的芯片解决方案,公司
集成的芯片解决方案,公司 - 1-800-379-4774
SR072-1E
05/12/99
1
IS62C256
引脚配置
28引脚SOP
A14
A12
A7
A6
A5
A4
A3
A2
A1
A0
I/O0
I/O1
I/O2
GND
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
VCC
WE
A13
A8
A9
A11
OE
A10
CS
I/O7
I/O6
I/O5
I/O4
I/O3
ISSI
引脚配置
28引脚TSOP
OE
A11
A9
A8
A13
WE
VCC
A14
A12
A7
A6
A5
A4
A3
22
23
24
25
26
27
28
1
2
3
4
5
6
7
21
20
19
18
17
16
15
14
13
12
11
10
9
8
A10
CS
I/O7
I/O6
I/O5
I/O4
I/O3
GND
I/O2
I/O1
I/O0
A0
A1
A2
引脚说明
A0-A14
地址输入
片选输入
输出使能输入
写使能输入
输入/输出
动力
真值表
模式
未选择
(掉电)
输出禁用
CS
OE
WE
I/O0-I/O7
VCC
GND
WE
X
H
H
L
CS
H
L
L
L
OE
X
H
L
X
I / O操作
高-Z
高-Z
D
OUT
D
IN
VCC电流
I
SB
1
, I
SB
2
I
CC
1
, I
CC
2
I
CC
1
, I
CC
2
I
CC
1
, I
CC
2
绝对最大额定值
(1)
符号
V
TERM
T
BIAS
T
英镑
P
T
I
OUT
参数
相对于GND端子电压
在偏置温度
储存温度
功耗
直流输出电流(低)
价值
-0.5到+7.0
-55到+125
-65到+150
单位
V
°C
°C
W
mA
0.5
20
注意:
1.应力超过绝对最大额定值可能会导致
永久损坏设备。这是一个额定值只和功能操作
器件在这些或以上的任何其他条件的业务部门所标明
本规范是不是暗示。暴露在绝对最大额定值条件下工作
期间可能会影响其可靠性。
2
集成的芯片解决方案,公司 - 1-800-379-4774
SR072-1E
05/12/99
IS62C256
工作范围
范围
广告
产业
环境温度
0 ° C至+ 70°C
-40 ° C至+ 85°C
V
CC
5V
±
10%
5V
±
10%
ISSI
DC电气特性
符号
V
OH
V
OL
V
IH
V
IL
I
LI
I
LO
参数
输出高电压
输出低电压
输入高电压
输入低电压
(1)
输入漏
输出漏
GND
V
IN
V
CC
GND
V
OUT
V
CC
,
输出禁用
COM 。
IND 。
COM 。
IND 。
测试条件
V
CC
=最小值,我
OH
= -1.0毫安
V
CC
=最小值,我
OL
= 2.1毫安
分钟。
2.4
2.2
–0.3
–2
–10
–2
–10
马克斯。
0.4
V
CC
+ 0.5
0.8
2
10
2
10
单位
V
V
V
V
A
A
注意:
1. V
IL
= -3.0V为脉冲宽度小于10纳秒。
电源特性
(1)
(以上经营范围)
符号
I
CC
1
I
CC
2
I
SB
1
参数
Vcc操作
电源电流
VCC工作动态
电源电流
TTL待机电流
( TTL输入)
CMOS待机
电流( CMOS输入)
测试条件
V
CC
=最大,
CS
= V
IL
I
OUT
= 0 mA时, F = 0
V
CC
=最大,
CS
= V
IL
I
OUT
= 0 mA时,女= F
最大
V
CC
=最大,
V
IN
= V
IH
或V
IL
CS
V
IH
, f = 0
V
CC
=最大,
CS
V
CC
– 0.2V,
V
IN
V
CC
- 0.2V ,或
V
IN
0.2V , F = 0
-45 NS
分钟。马克斯。
— 60
— 70
— 70
— 80
5
— 10
0.5
1.0
-70 NS
分钟。马克斯。
60
70
65
75
5
10
0.5
1.0
单位
mA
mA
mA
COM 。
IND 。
COM 。
IND 。
COM 。
IND 。
COM 。
IND 。
I
SB
2
mA
注意:
1.在f = F
最大
,地址和数据输入被循环在最大的频率f = 0,表示无输入线发生变化。
电容
(1,2)
符号
C
IN
C
OUT
参数
输入电容
输出电容
条件
V
IN
= 0V
V
OUT
= 0V
马克斯。
8
10
单位
pF
pF
注意事项:
1.测试开始后任何设计或工艺变化,可能会影响这些参数。
2.测试条件:T已
A
= 25 ° C,F = 1MHz时, VCC = 5.0V 。
集成的芯片解决方案,公司 - 1-800-379-4774
SR072-1E
05/12/99
3
IS62C256
数据保持特性
符号
V
DR
I
DR
1
I
DR
2
参数
V
CC
为保留数据
数据保持电流
数据保持电流
测试条件
V
DR
= 3.0V ,T
A
= 0 ° C至+ 25°C
V
DR
= 3.0V ,T
A
= 0 ° C至+ 70°C
分钟。
2.0
马克斯。
200
200
ISSI
单位
V
A
A
读周期开关特性
(1)
(以上经营范围)
符号
参数
读周期时间
地址访问时间
输出保持时间
-45 NS
分钟。马克斯。
45
2
0
0
3
0
0
45
45
25
20
20
30
-70 NS
分钟。
马克斯。
70
2
0
0
3
0
0
70
70
35
25
25
50
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
t
RC
t
AA
t
OHA
t
ACS
t
美国能源部
t
LZOE
(2)
t
HZOE
(2)
t
LZCS
(2)
t
HZCS
(2)
t
PU
(3)
t
PD
(3)
CS
存取时间
OE
存取时间
OE
以低Z输出
OE
到输出高阻态
CS
以低Z输出
CS
到输出高阻态
CS
到上电
CS
掉电
注意事项:
1.测试条件假设为5纳秒或更少的信号转换时间,定时1.5V的参考电平, 0输入脉冲电平为3.0V和
在图1中指定的输出负载。
2.在图2中转换测试,与负载测量
±500
毫伏从稳态电压。未经100%测试。
3.未经100%测试。
AC测试条件
参数
输入脉冲电平
输入上升和下降时间
输入和输出时序
和参考电平
输出负载
单位
0V至3.0V
3纳秒
1.5V
参见图1和2
AC测试负载
480
5V
5V
480
产量
100 pF的
INCLUDING
夹具
范围
255
产量
5 pF的
INCLUDING
夹具
范围
255
图1 。
4
图2中。
集成的芯片解决方案,公司 - 1-800-379-4774
SR072-1E
05/12/99
IS62C256
AC波形
读周期1号
(1,2)
t
RC
地址
ISSI
t
AA
t
OHA
D
OUT
以前的数据有效
t
OHA
数据有效
READ1.eps
读周期2号
(1,3)
t
RC
地址
t
AA
OE
t
OHA
t
美国能源部
CS
t
HZOE
t
LZOE
t
ACS
t
LZCS
t
HZCS
数据有效
CS_RD2.eps
D
OUT
高-Z
注意事项:
1.
WE
高一读周期。
2.该装置被连续地选择。
OE
,
CS
= V
IL
.
3.地址之前或重合是有效的
CS
低转换。
集成的芯片解决方案,公司 - 1-800-379-4774
SR072-1E
05/12/99
5
IS62C256
32K ×8低功耗CMOS静态RAM
特点
访问时间: 45 , 70纳秒
低有功功率: 200毫瓦(典型值)
低待机功耗
— 250
W
(典型值) CMOS待机
- 28毫瓦(典型值) TTL待机
全静态操作:无时钟或刷新
需要
TTL兼容的输入和输出
单5V电源
ISSI
描述
ISSI
IS62C256是一款低功耗, 32,768字由8位
CMOS静态RAM 。它是使用制造
ISSI
的高
高性能,低功耗CMOS技术。
CS
为高(取消) ,器件处于待机
模式,在其中的功耗可被降低至
250
W
(典型值) ,在CMOS输入电平。
易存储器扩展是通过使用低有效提供
片选(
CS
)输入和一个低电平有效输出使能(
OE
)
输入。该低电平有效写使能(
WE
)控制两种写作
和读取内存。
该IS62C256与其他32K ×8的SRAM的管脚兼容
塑料SOP或TSOP (I型)封装。
功能框图
A0-A14
解码器
32K ×8
存储阵列
VCC
GND
I / O
数据
电路
I/O0-I/O7
列I / O
CS
OE
WE
控制
电路
ISSI保留随时更改其产品在任何时候,恕不另行通知,以改进设计和提供最好的产品的权利。我们对任何错误概不负责其
可能出现在本出版物中。 版权所有1999年,集成的芯片解决方案,公司
集成的芯片解决方案,公司 - 1-800-379-4774
SR072-1E
05/12/99
1
IS62C256
引脚配置
28引脚SOP
A14
A12
A7
A6
A5
A4
A3
A2
A1
A0
I/O0
I/O1
I/O2
GND
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
VCC
WE
A13
A8
A9
A11
OE
A10
CS
I/O7
I/O6
I/O5
I/O4
I/O3
ISSI
引脚配置
28引脚TSOP
OE
A11
A9
A8
A13
WE
VCC
A14
A12
A7
A6
A5
A4
A3
22
23
24
25
26
27
28
1
2
3
4
5
6
7
21
20
19
18
17
16
15
14
13
12
11
10
9
8
A10
CS
I/O7
I/O6
I/O5
I/O4
I/O3
GND
I/O2
I/O1
I/O0
A0
A1
A2
引脚说明
A0-A14
地址输入
片选输入
输出使能输入
写使能输入
输入/输出
动力
真值表
模式
未选择
(掉电)
输出禁用
CS
OE
WE
I/O0-I/O7
VCC
GND
WE
X
H
H
L
CS
H
L
L
L
OE
X
H
L
X
I / O操作
高-Z
高-Z
D
OUT
D
IN
VCC电流
I
SB
1
, I
SB
2
I
CC
1
, I
CC
2
I
CC
1
, I
CC
2
I
CC
1
, I
CC
2
绝对最大额定值
(1)
符号
V
TERM
T
BIAS
T
英镑
P
T
I
OUT
参数
相对于GND端子电压
在偏置温度
储存温度
功耗
直流输出电流(低)
价值
-0.5到+7.0
-55到+125
-65到+150
单位
V
°C
°C
W
mA
0.5
20
注意:
1.应力超过绝对最大额定值可能会导致
永久损坏设备。这是一个额定值只和功能操作
器件在这些或以上的任何其他条件的业务部门所标明
本规范是不是暗示。暴露在绝对最大额定值条件下工作
期间可能会影响其可靠性。
2
集成的芯片解决方案,公司 - 1-800-379-4774
SR072-1E
05/12/99
IS62C256
工作范围
范围
广告
产业
环境温度
0 ° C至+ 70°C
-40 ° C至+ 85°C
V
CC
5V
±
10%
5V
±
10%
ISSI
DC电气特性
符号
V
OH
V
OL
V
IH
V
IL
I
LI
I
LO
参数
输出高电压
输出低电压
输入高电压
输入低电压
(1)
输入漏
输出漏
GND
V
IN
V
CC
GND
V
OUT
V
CC
,
输出禁用
COM 。
IND 。
COM 。
IND 。
测试条件
V
CC
=最小值,我
OH
= -1.0毫安
V
CC
=最小值,我
OL
= 2.1毫安
分钟。
2.4
2.2
–0.3
–2
–10
–2
–10
马克斯。
0.4
V
CC
+ 0.5
0.8
2
10
2
10
单位
V
V
V
V
A
A
注意:
1. V
IL
= -3.0V为脉冲宽度小于10纳秒。
电源特性
(1)
(以上经营范围)
符号
I
CC
1
I
CC
2
I
SB
1
参数
Vcc操作
电源电流
VCC工作动态
电源电流
TTL待机电流
( TTL输入)
CMOS待机
电流( CMOS输入)
测试条件
V
CC
=最大,
CS
= V
IL
I
OUT
= 0 mA时, F = 0
V
CC
=最大,
CS
= V
IL
I
OUT
= 0 mA时,女= F
最大
V
CC
=最大,
V
IN
= V
IH
或V
IL
CS
V
IH
, f = 0
V
CC
=最大,
CS
V
CC
– 0.2V,
V
IN
V
CC
- 0.2V ,或
V
IN
0.2V , F = 0
-45 NS
分钟。马克斯。
— 60
— 70
— 70
— 80
5
— 10
0.5
1.0
-70 NS
分钟。马克斯。
60
70
65
75
5
10
0.5
1.0
单位
mA
mA
mA
COM 。
IND 。
COM 。
IND 。
COM 。
IND 。
COM 。
IND 。
I
SB
2
mA
注意:
1.在f = F
最大
,地址和数据输入被循环在最大的频率f = 0,表示无输入线发生变化。
电容
(1,2)
符号
C
IN
C
OUT
参数
输入电容
输出电容
条件
V
IN
= 0V
V
OUT
= 0V
马克斯。
8
10
单位
pF
pF
注意事项:
1.测试开始后任何设计或工艺变化,可能会影响这些参数。
2.测试条件:T已
A
= 25 ° C,F = 1MHz时, VCC = 5.0V 。
集成的芯片解决方案,公司 - 1-800-379-4774
SR072-1E
05/12/99
3
IS62C256
数据保持特性
符号
V
DR
I
DR
1
I
DR
2
参数
V
CC
为保留数据
数据保持电流
数据保持电流
测试条件
V
DR
= 3.0V ,T
A
= 0 ° C至+ 25°C
V
DR
= 3.0V ,T
A
= 0 ° C至+ 70°C
分钟。
2.0
马克斯。
200
200
ISSI
单位
V
A
A
读周期开关特性
(1)
(以上经营范围)
符号
参数
读周期时间
地址访问时间
输出保持时间
-45 NS
分钟。马克斯。
45
2
0
0
3
0
0
45
45
25
20
20
30
-70 NS
分钟。
马克斯。
70
2
0
0
3
0
0
70
70
35
25
25
50
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
t
RC
t
AA
t
OHA
t
ACS
t
美国能源部
t
LZOE
(2)
t
HZOE
(2)
t
LZCS
(2)
t
HZCS
(2)
t
PU
(3)
t
PD
(3)
CS
存取时间
OE
存取时间
OE
以低Z输出
OE
到输出高阻态
CS
以低Z输出
CS
到输出高阻态
CS
到上电
CS
掉电
注意事项:
1.测试条件假设为5纳秒或更少的信号转换时间,定时1.5V的参考电平, 0输入脉冲电平为3.0V和
在图1中指定的输出负载。
2.在图2中转换测试,与负载测量
±500
毫伏从稳态电压。未经100%测试。
3.未经100%测试。
AC测试条件
参数
输入脉冲电平
输入上升和下降时间
输入和输出时序
和参考电平
输出负载
单位
0V至3.0V
3纳秒
1.5V
参见图1和2
AC测试负载
480
5V
5V
480
产量
100 pF的
INCLUDING
夹具
范围
255
产量
5 pF的
INCLUDING
夹具
范围
255
图1 。
4
图2中。
集成的芯片解决方案,公司 - 1-800-379-4774
SR072-1E
05/12/99
IS62C256
AC波形
读周期1号
(1,2)
t
RC
地址
ISSI
t
AA
t
OHA
D
OUT
以前的数据有效
t
OHA
数据有效
READ1.eps
读周期2号
(1,3)
t
RC
地址
t
AA
OE
t
OHA
t
美国能源部
CS
t
HZOE
t
LZOE
t
ACS
t
LZCS
t
HZCS
数据有效
CS_RD2.eps
D
OUT
高-Z
注意事项:
1.
WE
高一读周期。
2.该装置被连续地选择。
OE
,
CS
= V
IL
.
3.地址之前或重合是有效的
CS
低转换。
集成的芯片解决方案,公司 - 1-800-379-4774
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批号
数量
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单价/备注
操作
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