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自动测试矢量生成的其他应用

发布时间:2017/11/22 20:47:20 访问次数:399

   自动测矢量生成除了能够侦测固定式故障,对于不断发展的半导体技术,还能够OB2268CCPA测试其他的障碍,比如传播延迟故障,电源噪音,串扰失效。延迟故障的检测需要在电路所设计I作速度下测试,所以也就需要昂贵的高速测试机台,如何在低速测试机台完成测试,也是研究的主题。

   电源噪声主要会降低芯片的性能,造成单元之间互连的传播延迟和可靠性的下降,白动生成的测试矢量必须能够产生最差情况下的电源噪声。

   此外,ATPG算法的技术也在芯片自动化设计的领域当中,包括逻辑优化、冗余检测、时序分析等方面都有所帮助。


   自动测矢量生成除了能够侦测固定式故障,对于不断发展的半导体技术,还能够OB2268CCPA测试其他的障碍,比如传播延迟故障,电源噪音,串扰失效。延迟故障的检测需要在电路所设计I作速度下测试,所以也就需要昂贵的高速测试机台,如何在低速测试机台完成测试,也是研究的主题。

   电源噪声主要会降低芯片的性能,造成单元之间互连的传播延迟和可靠性的下降,白动生成的测试矢量必须能够产生最差情况下的电源噪声。

   此外,ATPG算法的技术也在芯片自动化设计的领域当中,包括逻辑优化、冗余检测、时序分析等方面都有所帮助。


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