在通路敏化法的基础上,有一些效益更高的组合电路自动测试矢量生成方法,较著名的有D算法、PODEM算法和FAN算法。

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   D算法是由Roth等人提出,它克服了一维算法的局限,采用多维敏化的思想,同时敏化从故障位置到电路的所有输出端的全部通路。他用(0,1,aˉ,D,D)五个状态来描述电路中各个信号线的状态。只要所考虑的故障是可测的,D算法就能够求得该故障的测试矢量。D

算法是第一个建立在严格的理论基础上的组合电路白动测试矢量生成算法,而且便于在计算机上实现。D算法的不足之处是在进行测试生成时将大量的时问用在许多不同的路径测试上;如果电路的规模大,往往计算很复杂,效率不高。

   PODEM算法是由Goel等人提出的。P()DEM算法吸收了穷举法的优点,将原始输人逐一设定值,对预定的故障生成测试矢量.昕以避免了许多畜目试探,减少FD算法中回溯和判决的次数.测试矢量的产生速度快了许多。而且有较高的故障覆盖率。PC DEM算法首先是激活故障,再将激活条件反向回溯.待满足激活条件的原始输人赋值以后,再进行正向驱赶。每驱赶一个门,就对满足驱赶条件和赋值逐个反向回溯.直到驱赶到原始输出为止。

   FAN算法是由Fujiwara和Shim°n°提出的。FAN算法更加减少回溯和判决的次数。特点是:唯一确定信号的直接分配,唯一敏化,在头线(主导线)停止回溯以及多路回溯。

   FAN算法在激活故障之后,首先进行D驱赶,然后再进行反向跟踪,但FAN算法有特别的D驱赶和反向跟踪算法。