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CY14B108K , CY14B108M
AC开关特性
参数
ALT
参数
参数
SRAM读周期
t
ACE
t
ACS
t
RC
t
RC [15]
[16]
t
AA
t
AA
t
美国能源部
t
OE
t
OH
t
OHA[16]
[12, 17]
t
LZCE
t
LZ
t
HZCE [12 , 17]
t
HZ
[12, 17]
t
LZOE
t
OLZ
[12, 17]
t
HZOE
t
OHZ
t
聚氨酯[12]
t
PA
[12]
t
PD
t
PS
t
DBE
-
[12]
t
LZBE
-
[12]
t
HZBE
-
SRAM写周期
t
WC
t
WC
t
WP
t
PWE
t
SCE
t
CW
t
SD
t
DW
t
HD
t
DH
t
AW
t
AW
t
SA
t
AS
t
HA
t
WR
[12, 17,18]
t
HZWE
t
WZ
[12, 17]
t
LZWE
t
OW
t
BW
-
20纳秒
描述
最大
20
20
20
10
3
3
8
0
8
0
20
10
0
8
20
15
15
8
0
15
0
0
8
3
15
3
20
25
20
20
10
0
20
0
0
10
3
30
0
10
45
30
30
15
0
30
0
0
15
0
25
12
0
15
0
10
0
45
20
3
3
10
0
15
25
25
12
3
3
15
25纳秒
最大
25
45
45
20
45纳秒
最大
45
单位
芯片使能存取时间
读周期时间
地址访问时间
输出使能到数据有效
地址变更后的输出保持
芯片使能到输出有效
芯片禁用到输出无效
输出使能输出活跃
输出禁止到输出无效
芯片使能为功耗工作
芯片禁用到备用电源
字节使能到数据有效
字节使能输出活跃
字节禁用输出无效
写周期时间
把脉冲宽度
芯片使能写操作的结束
数据建立到写结束
写入结束后数据保持
地址设置为写操作结束
地址设置到开始写
写入结束后地址保持
写使能到输出禁止
输出写入结束后主动
字节使能,以结束写的
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
开关波形
图7. SRAM读周期1 :地址控制
[15, 16, 19]
t
RC
地址
地址有效
t
AA
数据输出
以前的数据有效
t
OHA
输出数据有效
笔记
15.我们必须为高电平期间SRAM读周期。
16.设备不断选择通过CE , OE和BHE / BLE低。
17.测量± 200 mV的自稳态输出电压。
18.如果WE为低时, CE变低时,输出保持在高阻抗状态。
19. HSB必须在阅读居高不下,写周期。
文件编号: 001-47378修订版* B
第18页29
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