飞思卡尔半导体公司
测试访问端口引脚
TCK - 测试时钟（ INPUT）
时钟的所有TAP事件。所有的输入被捕获的上升
TCK的边缘，所有输出的下降沿传播
的TCK 。
TMS - 测试模式选择（ INPUT）
TMS输入进行采样，在TCK的上升沿。这
是TAP控制器状态机的命令输入。
一个为非驱动，TMS输入将产生相同的结果作为
逻辑1输入电平。
TDI - 测试数据输入（ INPUT）
TDI输入进行采样，在TCK的上升沿。这是
串行寄存器的输入端放置TDI和间
TDO 。置于TDI和TDO之间的寄存器是阻止 -
通过TAP控制器状态机的状态和开采
这是在TAP指令当前加载指令
寄存器（见图6） 。无驱动TDI引脚将产生
相同的结果为逻辑1输入电平。
TDO - 测试数据输出（ OUTPUT）
输出取决于TAP的状态是积极的
状态机（见图6） 。响应输出的变化
TCK的下降沿。这是串行的输出侧
寄存器置于TDI和TDO之间。
TRST - TAP复位
这个装置不具有一个TRST引脚。 TRST是可选的
IEEE 1149.1 。测试逻辑复位状态进入，而TMS
保持高电平达5个TCK上升沿。上电复位税务局局长
关，是内部包括在内。这种类型的复位不会影响
该系统逻辑的操作。复位会影响测试逻辑
只。
边界扫描寄存器
边界扫描寄存器是相同的长度的
有源输入的数和I / O连接的RAM（未
计数TAP引脚） 。这也包括了一些地方
保持器的位置（总是被设置为逻辑1 ）保留用于密度
升级地址引脚。总共有70位的情况下是
在对x36设备和51位中的×18装置的情况下的。
边界扫描寄存器， TAP的控制之下
控制器，将装入RAM中的I / O环的内容
当控制器处于capture-DR状态，然后被放置
之间的TDI和TDO引脚，当控制器移动
到Shift-DR状态。几个TAP指令可用于
激活边界扫描寄存器。
凹凸/位扫描顺序表描述了设备
凸点连接到每一个边界扫描寄存器位置。该
第一列定义了边界扫描的位的位置
注册。最近TDO移位寄存器位（即第一个是
移出）被定义为比特1，第二列是
在凸块的输入或输入/输出和第三列的名称是
凹凸数。
标识（ID ）注册
ID寄存器是装载有一去一32位寄存器
副和供应商特定的32位代码时，控制器
摆在capture-DR状态与IDCODE命令加载
在指令寄存器中。该代码是由一个32位装
片上ROM 。它描述了在RAM作为各种属性
如下所示。该寄存器则TDI之间放
和TDO引脚当控制器移入移位-DR
状态。 0位寄存器为LSB ，并率先达到
时移TDO开始。
ID寄存器状态指示器
位号
价值
0
1
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测试访问端口寄存器
概观
通过各种技术咨询寄存器被选择（一次一个）
的1和0输入TMS引脚为TCK序列
被选通。每一个水龙头寄存器的串行移位寄存器
在TCK的上升沿TER值，用以捕捉的串行输入数据
推串行数据在TCK的后续下降沿。
当一个寄存器被选中是“摆”的TDI之间
和TDO引脚。
指令寄存器
指令寄存器认为是说明
由TAP控制器执行时，它被移动到运行
测试/空闲或各种数据寄存器的状态。该指令
是3位长。该寄存器可以当它被置于被加载
TDI和TDO引脚之间。指令寄存器
在pow-自动预装IDCODE指令
尔式或每当所述控制器被放置在测试逻辑复位
状态。
旁路寄存器
旁路寄存器是一个位寄存器，可
放置TDI和TDO之间。它允许串行的测试数据是
通过RAM中的TAP传递到另一个设备中的扫描
链尽可能少延误的可能。
摩托罗拉JEDEC ID代码（压缩格式，每
IEEE标准1149.1 - 1990年
位号
价值
11
0
10
0
9
0
8
0
7
0
6
0
5
0
4
1
3
1
2
1
1
0
留作将来使用
位号
价值
17
x
16
x
15
x
14
x
13
x
12
x
设备宽度
CON组fi guration
256K ×36
512K ×18
位号
价值
价值
22
0
0
21
0
0
20
1
0
19
0
1
18
0
1
设备深度
CON组fi guration
256K ×36
512K ×18
位号
价值
价值
27
0
0
26
0
0
25
1
1
24
1
1
23
0
1
版本号
位号
价值
31
x
30
x
29
x
28
x
图5. ID寄存器位的含义
MCM63R836MCM63R918
16
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摩托罗拉快速SRAM
