
2Mb
SMART 3 BOOT BLOCK FLASH MEMORY
在V举行
HH
或WP #引脚保持高电平,直到ERASE
或写操作完成。在V
PP
引脚必须在V
PPH
( 3.3V或5V )时,引导块被写入或擦除。
该MT28F002B3和MT28F200B3都可用
两种配置和顶部或底部引导块。该
顶部引导块版本支持x86的处理器
品种繁多。底部引导块版本适用于
680X0和RISC应用程序。图1示出了
内存地址映射与这两个ver-相关
sions 。
参数块
这两个8KB参数块存储不太敏感
和更频繁变化的系统参数和
还可以存储配置或诊断编码。
启用了擦除时, V这些块
PP
针
是V
PPH
。无超电压解锁或WP #控制
所需。
主内存模块
剩下的两个块是通用
内存块,并且不需要对一个超电压
RP #或WP #控制被擦除或写入。这些
块用于代码存储, ROM驻留
需要IN-应用程序或操作系统
系统更新功能。
上电后或复位后,设备将automati-
美云是在该阵列中读取模式。所有命令和它们的
操作包括在命令集和COM的
命令执行的部分。
状态寄存器
执行状态寄存器的读要求
相同的输入序列作为数组的一个READ除外
该地址输入“不在乎。 ”状态
寄存器的内容总是在DQ0 - DQ7输出,再
gardless的BYTE #上MT28F200B3的条件。
DQ8 - DQ15都为低电平时,字节#为高电平,并DQ8-
DQ14是高阻时, BYTE #为低。从数据
状态寄存器锁存OE #下降沿或
CE# ,最后的为准。如果状态寄存器的内容
状态寄存器的读寄存器中的变化,
无论OE#或CE#可以切换,而另一个是
保持低电平来更新输出。
经过写或擦除,设备automati-
美云进入状态寄存器读模式。此外,
一个写入或擦除过程中,读取时将产生
在DQ0 - DQ7状态寄存器的内容。当该装置
在擦除暂停模式,进行读操作将
生产状态寄存器的内容,直到另一个的COM
命令发出。当设备在某些其他
模式,读状态寄存器,可给予重新
转状态寄存器读模式。所有的命令
和他们的业务覆盖了命令集
和命令执行的部分。
识别寄存器
两个8位的设备标识寄存器的读
TER值需要同样的输入序列作为一个READ
的阵列。 WE#要高,和OE #和CE #必须
是低电平。然而, ID寄存器的数据被输出仅在
的DQ0 - DQ7 ,无论BYTE #的条件
MT28F200B3 。 A0用于在两者之间进行解码
设备ID寄存器的字节;所有其他地址输入
是“不在乎。 ”当A0为低,制造商
兼容性ID是输出,而当A0为高电平时,
设备ID是输出。 DQ8 - DQ15是高阻时, BYTE #
为LOW 。当BYTE #为高电平, DQ8 - DQ15是00H
当制造商兼容性ID被读出并
当装置ID被读取22H 。
去识别寄存器读出模式,
读出的识别可以同时该设备发出的
在某些其他模式。此外, identifica-
置寄存器读出模式可以通过应用程
超电压(V
ID
)的A9引脚。使用这种方法,
ID寄存器可以读,而该设备在任何
模式。一旦A9返回到V
IL
或V
IH
,该设备将
返回到先前的模式。
输出(读取)操作
该MT28F002B3和MT28F200B3功能3
不同类型的READS 。根据当前的
该装置的模式,读操作会产生数据
从存储器阵列,状态寄存器或设备iDEN的
tification寄存器。在每个这些三种情况下, WE#
CE#和OE #输入被控制以类似的方式。
模式之间的移动来执行特定的读操作
盖在命令执行部。
存储阵列
要读取的存储器阵列, WE#要高,而
OE #和CE #必须为低电平。有效数据将被输出
在DQ引脚一旦这些条件得到满足
和一个有效地址被给出。有效的数据将保留在
DQ管脚,直到地址变更,或直到OE #或
CE#变高,以先到为准。 DQ管脚
将继续输出新数据的每个地址后
只要OE #和CE #保持低电平的转换。
该MT28F200B3具有可选的总线宽度。
当存储阵列进行访问的128K ×16 ,
字节#是高电平,并且数据将在DQ0 - DQ15输出。
要访问存储阵列作为一个256K ×8 , BYTE #绝
为低电平, DQ8 - DQ14是高阻,并且所有数据被输出
在DQ0 - DQ7 。在DQ15 / (A - 1 )引脚变为最低
为了地址输入,使262,144的位置可以
读取。
2MB智能3引导块闪存
F48.p65 - 修订版1/00
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2000年,美光科技公司