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测试系统硬件结构

发布时间:2014/7/6 15:14:13 访问次数:652

    根据测试系统的需求确定测试系统的硬件结构如图18-2所示。

   由于该系统不需要长期在线运行, NE5080N为了降低测试成本,利用现有设备组成了一个多卡测试系统。测试系统主机采用了8槽工控机。插入6块NI公司M系列数据采集卡PCI-6221;PCI-6221具有16路16位A/D转换器、250kS/s采样率。应变信号调理采用了NI公司的SC-2043-SG应变调理卡。SC-2043-SG具有8通道放大、滤波、激励、组桥等功能,非常适合电阻应变片的信号调理。位移传感器采用激光测距仪。位移调理卡为激光测距仪提供12V激励电压,并将激光测距仪输出的4~20mA电流信号转换为电压信号。振动数据采集采用作者开发的振动信号采集器,有8个通道,直接连接ICP传感器,将振动信号通过网口传输到计算机。在上位机进行频率分析和位移积分。

       

    根据测试系统的需求确定测试系统的硬件结构如图18-2所示。

   由于该系统不需要长期在线运行, NE5080N为了降低测试成本,利用现有设备组成了一个多卡测试系统。测试系统主机采用了8槽工控机。插入6块NI公司M系列数据采集卡PCI-6221;PCI-6221具有16路16位A/D转换器、250kS/s采样率。应变信号调理采用了NI公司的SC-2043-SG应变调理卡。SC-2043-SG具有8通道放大、滤波、激励、组桥等功能,非常适合电阻应变片的信号调理。位移传感器采用激光测距仪。位移调理卡为激光测距仪提供12V激励电压,并将激光测距仪输出的4~20mA电流信号转换为电压信号。振动数据采集采用作者开发的振动信号采集器,有8个通道,直接连接ICP传感器,将振动信号通过网口传输到计算机。在上位机进行频率分析和位移积分。

       

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7-6测试系统硬件结构

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