正如第12章所指出的，数码电子产品能够产生共模辐射或差模辐射。NP100N055PUH上述电缆电流测量可以提供共模辐射机制的信息，下面需要的是一些差模辐射的信息。差模辐射是电流流避印制电路板上的环形回路产生的，这些电流环作为小环形天线辐射磁场。所以你能够做的就是测量印制电路板附近的磁场。这些能够用类似于图2-29(c)所示的小屏蔽环形探头测量。

   Scott Roleson 1984年在EDN论文中(Roleson，1984)描述了这种环形探头的设计与结构，这种磁场探头的结构如图18-4所示。这篇论文中所描述的探头的商业版可用像来自Fischer Custom Communications的F-301型屏蔽环形传感器（见图18-5）。环的直径大约314in，使用的频率范围10～500MHz。虽然探头能够在磁场中校准，近场测量的结果不能外推到远场，从而确定辐射的大小。关于近场和远场更多的讨论见6.1节。因此，用这种探头做的测量是定性的而不是定量的。但是在对产品做改造或修改时，这些测量对于确定差模辐射的源以及对A和B做比较仍然是有用的。

   对于上述的磁场探头，有一种替代的方法，利用50fl,同轴电缆作一个自制的简易探头。

   把电缆一端的内导体焊接到屏蔽层上，作成直径为3/4～lin的环，如图18-6所示，这一端的屏蔽应断开。虽然在屏蔽电场方面不像“Roleson探头”那样好，它的性能对于大多数先期应用一般是足够的。这种探头的优点是便宜并且容易制作。采用这种结构的商业探头也是可用的，例如EMCO (ETS Lindgren) 7405近场探头组或者A.R．A技术的HFP-7410探头组，这两组探头包括磁场探头和电场探头。