系统受冲击的最大响应可能出现在UC3875DWP激励脉冲的持续时间内，也可能在激励脉冲的持续时间后（激励脉冲停止后）。其决定因素是看激励脉冲的持续时间D和系统的固有周期T的比值。把一典型的电子产品中的每一结构单元简化为具有刚性质量块m、无阻尼弹簧k、阻尼器c所组成的单自由度系统。将这些不同固有频率的单自由度系统排列起来安装在同一基础上，并让基础受到一冲击脉冲的激励，如图6-33所示。
    然后，将各单自由度系统受冲击后的初始响应和残余响应分别以系统的固有频率为函数排列起来并描成曲线，这便是冲击响应的谱曲线（简称冲击响应谱），如图6-34所示。其中反映初始响应的曲线称初始冲击响应谱；反映残余响应的曲线称残余冲击响应谱。又由于系统冲击所产生的响应发生在正负两个方向上，所以又有：

    正初始冲击响应谱(+I)：指在冲击脉冲持续时间内与激励脉冲同方向上出现的最大响应曲线。
    负初始冲击响应谱（-I）：指在冲击脉冲持续时间内与激励脉冲相反方向上出现的最大响应曲线。
    正残余冲击响应谱（+R）：指在冲击脉冲持续时间后与激励脉冲同方向上出现的最大响应曲线。
    负残余冲击响应谱（-R）：指在冲击脉冲持续时间后与激励脉冲相反方向上出现的最大响应曲线。
    由于正初始冲击响应谱在任何时候均比负初始冲击响应谱大，且正、负残余冲击响应谱互相对称，所以一般只给出正初始冲击响应谱和正残余冲击响应谱。