消除非固体电解质钽电容器失效模式的可靠性设计
发布时间:2012/5/3 19:32:04 访问次数:915
非固体电解质钽电容器的失效模式有两种，一种是发M27C1001-12F6热失效模式，另一种是过电压失效模式。
(1)发热失效模式
非固体电解质钽电容器的发热失效模式主要是通过电容器的电流突然增大引起电容器内部发热量急剧增加，引起短时间内电容器内部温度急剧升高而使电容器发生热击穿。发热失效又分为以下两种：
①电容器钽芯Ta2 0s介质存在缺陷，在大电流的冲击下缺陷暴露形成漏电流急剧增大。针对这种失效模式，可以采取优化钽芯的形成工艺，提高钽芯氧化膜的质量来解决。
②电容器在有纹波电流通过的电路中，由于电容嚣的电阻存在而要消耗能量，电容器内部温度会因消耗能量而产生热，也会使电容器发生热击穿。针对这种失效模式，可以采取优化电容器的结构设计、正确的选择钽粉来降低电容器的损耗角正切值和等效串联电阻，这样可以大大减少电容器内部发热，提高电容器的可靠性。
(2)过电压失效模式
过电压失效就是电容器两端承受的电压超过了电容器能够承受的最高电压而发生电容器失效。在电容器试验或使用过程中，电容器两端承受的瞬间冲击电压超过了电容器的额定电压而使电容器的漏电流异常增大，引起电容器内部发热而损坏钽芯的Ta2 0s介质层。可以在设计形成电压时，选择较高的形成电压，提高电容器的耐冲击能力。
(1)发热失效模式
非固体电解质钽电容器的发热失效模式主要是通过电容器的电流突然增大引起电容器内部发热量急剧增加，引起短时间内电容器内部温度急剧升高而使电容器发生热击穿。发热失效又分为以下两种：
①电容器钽芯Ta2 0s介质存在缺陷，在大电流的冲击下缺陷暴露形成漏电流急剧增大。针对这种失效模式，可以采取优化钽芯的形成工艺，提高钽芯氧化膜的质量来解决。
②电容器在有纹波电流通过的电路中，由于电容嚣的电阻存在而要消耗能量，电容器内部温度会因消耗能量而产生热，也会使电容器发生热击穿。针对这种失效模式，可以采取优化电容器的结构设计、正确的选择钽粉来降低电容器的损耗角正切值和等效串联电阻，这样可以大大减少电容器内部发热，提高电容器的可靠性。
(2)过电压失效模式
过电压失效就是电容器两端承受的电压超过了电容器能够承受的最高电压而发生电容器失效。在电容器试验或使用过程中，电容器两端承受的瞬间冲击电压超过了电容器的额定电压而使电容器的漏电流异常增大，引起电容器内部发热而损坏钽芯的Ta2 0s介质层。可以在设计形成电压时，选择较高的形成电压，提高电容器的耐冲击能力。
非固体电解质钽电容器的失效模式有两种，一种是发M27C1001-12F6热失效模式，另一种是过电压失效模式。
(1)发热失效模式
非固体电解质钽电容器的发热失效模式主要是通过电容器的电流突然增大引起电容器内部发热量急剧增加，引起短时间内电容器内部温度急剧升高而使电容器发生热击穿。发热失效又分为以下两种：
①电容器钽芯Ta2 0s介质存在缺陷，在大电流的冲击下缺陷暴露形成漏电流急剧增大。针对这种失效模式，可以采取优化钽芯的形成工艺，提高钽芯氧化膜的质量来解决。
②电容器在有纹波电流通过的电路中，由于电容嚣的电阻存在而要消耗能量，电容器内部温度会因消耗能量而产生热，也会使电容器发生热击穿。针对这种失效模式，可以采取优化电容器的结构设计、正确的选择钽粉来降低电容器的损耗角正切值和等效串联电阻，这样可以大大减少电容器内部发热，提高电容器的可靠性。
(2)过电压失效模式
过电压失效就是电容器两端承受的电压超过了电容器能够承受的最高电压而发生电容器失效。在电容器试验或使用过程中，电容器两端承受的瞬间冲击电压超过了电容器的额定电压而使电容器的漏电流异常增大，引起电容器内部发热而损坏钽芯的Ta2 0s介质层。可以在设计形成电压时，选择较高的形成电压，提高电容器的耐冲击能力。
(1)发热失效模式
非固体电解质钽电容器的发热失效模式主要是通过电容器的电流突然增大引起电容器内部发热量急剧增加，引起短时间内电容器内部温度急剧升高而使电容器发生热击穿。发热失效又分为以下两种：
①电容器钽芯Ta2 0s介质存在缺陷，在大电流的冲击下缺陷暴露形成漏电流急剧增大。针对这种失效模式，可以采取优化钽芯的形成工艺，提高钽芯氧化膜的质量来解决。
②电容器在有纹波电流通过的电路中，由于电容嚣的电阻存在而要消耗能量，电容器内部温度会因消耗能量而产生热，也会使电容器发生热击穿。针对这种失效模式，可以采取优化电容器的结构设计、正确的选择钽粉来降低电容器的损耗角正切值和等效串联电阻，这样可以大大减少电容器内部发热，提高电容器的可靠性。
(2)过电压失效模式
过电压失效就是电容器两端承受的电压超过了电容器能够承受的最高电压而发生电容器失效。在电容器试验或使用过程中，电容器两端承受的瞬间冲击电压超过了电容器的额定电压而使电容器的漏电流异常增大，引起电容器内部发热而损坏钽芯的Ta2 0s介质层。可以在设计形成电压时，选择较高的形成电压，提高电容器的耐冲击能力。
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