位置:51电子网 » 技术资料 » EDA/PLD

可靠性设计方案的考虑

发布时间:2012/4/26 19:41:41 访问次数:636

    在制订半导体分立器件可BYV26C靠性设计方案时,应考虑以下六个方面:
    ①必须将可靠性设计贯穿于产品设计的各个方面和全过程,在满足基本功能的同时,全面考虑影响可靠性的各种因素。
    ②可靠性设计应有明确的可靠性设计指标及其评价试验方案。
    ③应针对失效模式及机理进行设计,最大限度地消除或控制产品在寿命周期内可能出现的失效模式。
    ④应在继承成功经验的基础上积极采用先进的设计原理、可靠性技术和成熟的新材料、新结构、新工艺。
    ⑤设计所选用的材料结构、版图结构、封装结构应在满足预定可靠性指标的情况下尽量简他,避免复杂结构带来的可靠性问题。
    ⑥可靠性设计实施过程必须与可靠性管理紧密结合起来。
    在制订半导体分立器件可BYV26C靠性设计方案时,应考虑以下六个方面:
    ①必须将可靠性设计贯穿于产品设计的各个方面和全过程,在满足基本功能的同时,全面考虑影响可靠性的各种因素。
    ②可靠性设计应有明确的可靠性设计指标及其评价试验方案。
    ③应针对失效模式及机理进行设计,最大限度地消除或控制产品在寿命周期内可能出现的失效模式。
    ④应在继承成功经验的基础上积极采用先进的设计原理、可靠性技术和成熟的新材料、新结构、新工艺。
    ⑤设计所选用的材料结构、版图结构、封装结构应在满足预定可靠性指标的情况下尽量简他,避免复杂结构带来的可靠性问题。
    ⑥可靠性设计实施过程必须与可靠性管理紧密结合起来。

热门点击

 

推荐技术资料

声道前级设计特点
    与通常的Hi-Fi前级不同,EP9307-CRZ这台分... [详细]
版权所有:51dzw.COM
深圳服务热线:13751165337  13692101218
粤ICP备09112631号-6(miitbeian.gov.cn)
公网安备44030402000607
深圳市碧威特网络技术有限公司
付款方式


 复制成功!