大多数电子元器件的失效率FF200R12KT4随时间的变化曲线彤似浴盆，故称为“浴盆曲线”。“浴盆曲线”表明电子元器件的失效率随时间的变化大致可以分为早期失效期、偶然失效期和磨损失效期这三个阶段。

    (1)早期失效期
    早期失效期的电子元器件在投入使用的初期，其失效率较高，且具有随时间迅速下降的特征。这一阶段电子元器件的失效主要是由于设计与制造中的缺陷（如设计不当、材料缺陷、加工缺陷、安装调试不当等）引起的，并在产品投入使用后的早期内易较快暴露出来。早期失效可通过加强质量管理及采用环境应力筛选等办法来减少。
    (2)偶然失效期
    在电子元器件投入使用一段时间后，产品的失效率可降到一个较低的水平，且基本处于平稳状态，此时可以近似认为失效率为常数，这一阶段就是偶然失效期。在这个时间产品的失效主要是由偶然因素引起的，偶然失效阶段是产品的主要使用期间。
    (3)耗损失效期
    在电子元器件投入使用相当长的时间后，产品进入耗损失效期，其特点是产品的失效率迅速上升，很快出现产品失效大量增加的现象。这一阶段产品的失效主要是由老化、疲劳、磨损、腐蚀等耗损性因素引起的。通过对产品试验数据分析，可以确定电子元器件耗损阶段的起始点。在耗损起始点到来之前应对电子设备中耗损的电子元器件、零件、部件予以维修、更换，就可以降低设备的故障率，延长设备的使用寿命。从图1.4还可看出，电子元器件的使用寿命期饫短与产品规定条件和规定的或可接受的失效率有关。如规定的允许失效率高，产品的使用寿命就长，反之，使用寿命就短。