随着ddr存储技术的发展，工程师在工作中涉及到ddr的机会也越来越多，更多的公司，包括芯片设计、dimm和系统厂商，正面临着性能验证和测试的难题。除了产品互通性问题和信号品质，工程师甚至还需要结合eda设计软件仿真分析电路信号完整性。

    图1，在金手指处测得的dqs/dq 电压波形

    由于ddr自身信号的复杂性，包括差动时脉信号，数十路data strobe（dqs）和data（dq）信号，每一路都有高阻（hi-z）和逻辑高（1）、低（0）三种状态（tri-state），再加上五六路控制信号，十几路地址信号，使得其性能验证和测试变得极具挑战性。本文将介绍如何透过安捷伦创新的示波器ddr测试软件，确认问题产生时对应的具体时间/时序和信号品质，和如何运用安捷伦eesof ads先进设计系统eda，进行电路设计和仿真。

    图2，(a) hi-z在眼图中央 　　 (b),hi-z被去掉之后的眼图

    时序验证是ddr量测的关键之一，也是最困难的部分。在面对高速总线时，眼图是最常用的信号完整性测试方法，但由于ddr信号本身的独特性，传统的『触发-堆栈』方式不适用于ddr，导致很多工程师都已经放弃这样的测试方式。全文刊登在《edn china电子设计技术》网站：www.ednchina.com上。