通过监测整个系统电源的缓升完全触发系统复位的IC
发布时间:2021/9/19 10:45:22 访问次数:79
越来越多的IoT系统工程师转向使用1V甚至更低的微控制器核电压,而传统的监控电路会在如此低的输入电压下产生不稳定输出。使得系统在上电时容易发生故障,造成MCU在唤醒时处于不确定的状态,包括处理器I/O输出不正确、读数据错误或其它故障。
基础模拟产品线的MAX16162nanoPower监控电路,帮助设计师改善低压IoT应用的系统可靠性。
该监控IC是业界首款通过监测整个系统电源的缓升完全触发系统复位的IC,从而避免上电期间低压尖峰脉冲的干扰,提高系统可靠性。
制造商: Infineon
产品种类: MOSFET
RoHS: 详细信息
技术: Si
安装风格: Through Hole
封装 / 箱体: TO-220-3
晶体管极性: N-Channel
通道数量: 1 Channel
Vds-漏源极击穿电压: 60 V
Id-连续漏极电流: 80 A
Rds On-漏源导通电阻: 7.4 mOhms
Vgs - 栅极-源极电压: - 20 V, + 20 V
Vgs th-栅源极阈值电压: 3 V
Qg-栅极电荷: 56 nC
最小工作温度: - 55 C
最大工作温度: + 175 C
Pd-功率耗散: 79 W
通道模式: Enhancement
资格: AEC-Q101
封装: Tube
商标: Infineon Technologies
配置: Single
高度: 15.65 mm
长度: 10 mm
产品类型: MOSFET
系列: IPP80N06S4
工厂包装数量: 50
子类别: MOSFETs
晶体管类型: 1 N-Channel
宽度: 4.4 mm
零件号别名: IPP80N06S4-07 SP001028666
单位重量: 2 g
新产品作为EMARMOUR™的运算放大器系列产品,在ROHM的电波暗室中实施了“电子辐射抗扰度测试 ISO 11452-2”、“BCI测试 ISO 11452-4”、“近距离辐射抗扰度测试 ISO 11452-9”、“DPI测试 IEC 62132-4”这四种国际通行的抗扰度评估测试,并在这四种测试中都表现出了非常出色的性能。
(素材来源:eepw和ttic.如涉版权请联系删除。特别感谢)
越来越多的IoT系统工程师转向使用1V甚至更低的微控制器核电压,而传统的监控电路会在如此低的输入电压下产生不稳定输出。使得系统在上电时容易发生故障,造成MCU在唤醒时处于不确定的状态,包括处理器I/O输出不正确、读数据错误或其它故障。
基础模拟产品线的MAX16162nanoPower监控电路,帮助设计师改善低压IoT应用的系统可靠性。
该监控IC是业界首款通过监测整个系统电源的缓升完全触发系统复位的IC,从而避免上电期间低压尖峰脉冲的干扰,提高系统可靠性。
制造商: Infineon
产品种类: MOSFET
RoHS: 详细信息
技术: Si
安装风格: Through Hole
封装 / 箱体: TO-220-3
晶体管极性: N-Channel
通道数量: 1 Channel
Vds-漏源极击穿电压: 60 V
Id-连续漏极电流: 80 A
Rds On-漏源导通电阻: 7.4 mOhms
Vgs - 栅极-源极电压: - 20 V, + 20 V
Vgs th-栅源极阈值电压: 3 V
Qg-栅极电荷: 56 nC
最小工作温度: - 55 C
最大工作温度: + 175 C
Pd-功率耗散: 79 W
通道模式: Enhancement
资格: AEC-Q101
封装: Tube
商标: Infineon Technologies
配置: Single
高度: 15.65 mm
长度: 10 mm
产品类型: MOSFET
系列: IPP80N06S4
工厂包装数量: 50
子类别: MOSFETs
晶体管类型: 1 N-Channel
宽度: 4.4 mm
零件号别名: IPP80N06S4-07 SP001028666
单位重量: 2 g
新产品作为EMARMOUR™的运算放大器系列产品,在ROHM的电波暗室中实施了“电子辐射抗扰度测试 ISO 11452-2”、“BCI测试 ISO 11452-4”、“近距离辐射抗扰度测试 ISO 11452-9”、“DPI测试 IEC 62132-4”这四种国际通行的抗扰度评估测试,并在这四种测试中都表现出了非常出色的性能。
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