全新的IR2.0检测模块结合光学和真正的IR侧面小体积QFN封装
发布时间:2021/8/18 21:43:39 访问次数:326
Holtek小封装Flash MCU系列新增HT66F2030产品,特点为1.8V~5.5V宽工作电压范围、具快速启动功能,内建高精准度振荡器,精准的ADC参考电压,及提供小体积的QFN封装。
产品提供多样化通信接口,除可作为主控MCU,亦可作为周边桥接MCU,相关应用产品例如小家电、电动工具、工业控制、智能型穿戴装置、变送器等。
HT66F2030涵盖完整并多样化的功能,包含2K×15 Flash ROM,128×8 RAM、32×8 EEPROM,10-bit CTM及PTM各一组,Time Base两组,12-bit ADC、SPI/I2C/UART接口等。
ICOS F160XP系统中采用了全新的IR2.0检测模块,它结合了光学和真正的IR侧面检测,100%IR检测的产量也比前一代产品翻了一番。
该模块提供了一种高效的检测流程,对影响良率的裂纹和其他缺陷类型具有很高的灵敏度,并且可以准确识别不良部件,最大程度地提高了芯片分拣的准确性。
新一代的ICOS T3 / T7系列配备有几种新型的全自动光学IC元件检测仪,旨在满足整个封装组装中各个不同制程的检测需求。
(素材来源:eccn和ttic.如涉版权请联系删除。特别感谢)
Holtek小封装Flash MCU系列新增HT66F2030产品,特点为1.8V~5.5V宽工作电压范围、具快速启动功能,内建高精准度振荡器,精准的ADC参考电压,及提供小体积的QFN封装。
产品提供多样化通信接口,除可作为主控MCU,亦可作为周边桥接MCU,相关应用产品例如小家电、电动工具、工业控制、智能型穿戴装置、变送器等。
HT66F2030涵盖完整并多样化的功能,包含2K×15 Flash ROM,128×8 RAM、32×8 EEPROM,10-bit CTM及PTM各一组,Time Base两组,12-bit ADC、SPI/I2C/UART接口等。
ICOS F160XP系统中采用了全新的IR2.0检测模块,它结合了光学和真正的IR侧面检测,100%IR检测的产量也比前一代产品翻了一番。
该模块提供了一种高效的检测流程,对影响良率的裂纹和其他缺陷类型具有很高的灵敏度,并且可以准确识别不良部件,最大程度地提高了芯片分拣的准确性。
新一代的ICOS T3 / T7系列配备有几种新型的全自动光学IC元件检测仪,旨在满足整个封装组装中各个不同制程的检测需求。
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