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动态参数测试方法

发布时间:2019/6/23 18:14:19 访问次数:1785

  动态参数测试方法

   动态参数主要包括总栅电荷gg栅极一源极间电荷ggs和栅极一漏极间电荷仇VDMOs是电压型驱动器件,驱动的过程就是栅极电压的建立过程,这是通过对栅源及栅漏之间的电容充电来实现的,测试原理如图5-57所示。G6K-2P-Y-12V


   采用与被测器件同样的器件作为可调电流负载,调节负载导通时电流在规定值,在栅极施加恒定电流rG至栅极一源极电压/Gs达到其规定值。通过采样电阻监测凡、rD是否为规定值,利用示波器监测零点幻至幻时的漏极一源极电压‰s和栅极一源极电压/Gs。栅极总电荷

由下式计算:总栅电荷仇测试公式中幻对应图5-58中幻时刻,栅极一源极间电荷口gs测试公式中幻对应图5-58中劫时刻、栅极一漏极间电荷ggd测试公式中rl对应图5-58中兔时刻。

   

   开关参数测试方法

   开启延迟时间rdlon)、关断延迟时间兔lofO、输出上升时间饽、输出下降时间犴测试的基本原理可以参考GB/T俏86-19%标准中第Ⅳ章第14条“开关时间”的测试基本原理。但标准中提到占空比应低,通常在实际测试中占空比设置为1%。随着VDMOS功率的不断提升,脉宽应受到限制。针对大功率VDMOS器件,为了提高测试的精确度,避免器件在测试过程中发热,导致参数漂移,实际测试的脉宽设置为不大于1Its。测试原理如图5-59所示。 

   

   通过双路示波器对呢两端进行波形采样,波形中:从当栅源电压上升到10%栅驱动电压时到漏电流升到规定电流的10%时所经历的时间为导通延时时间;从当栅源电压下降到⒇%栅驱动电压时到漏电流降至规定电流的90%时所经历的时间,这显示电流传输到负载之前所经历的延迟为关断延时时间;漏极电流从10%上升到⒛%所经历的时间为上升时间;漏极电流从90%下降到10%所经历的时间为下降时间。测试时需要采用电感特性尽量小的负载,同时测试电路设计时需要降低电感效应




  动态参数测试方法

   动态参数主要包括总栅电荷gg栅极一源极间电荷ggs和栅极一漏极间电荷仇VDMOs是电压型驱动器件,驱动的过程就是栅极电压的建立过程,这是通过对栅源及栅漏之间的电容充电来实现的,测试原理如图5-57所示。G6K-2P-Y-12V


   采用与被测器件同样的器件作为可调电流负载,调节负载导通时电流在规定值,在栅极施加恒定电流rG至栅极一源极电压/Gs达到其规定值。通过采样电阻监测凡、rD是否为规定值,利用示波器监测零点幻至幻时的漏极一源极电压‰s和栅极一源极电压/Gs。栅极总电荷

由下式计算:总栅电荷仇测试公式中幻对应图5-58中幻时刻,栅极一源极间电荷口gs测试公式中幻对应图5-58中劫时刻、栅极一漏极间电荷ggd测试公式中rl对应图5-58中兔时刻。

   

   开关参数测试方法

   开启延迟时间rdlon)、关断延迟时间兔lofO、输出上升时间饽、输出下降时间犴测试的基本原理可以参考GB/T俏86-19%标准中第Ⅳ章第14条“开关时间”的测试基本原理。但标准中提到占空比应低,通常在实际测试中占空比设置为1%。随着VDMOS功率的不断提升,脉宽应受到限制。针对大功率VDMOS器件,为了提高测试的精确度,避免器件在测试过程中发热,导致参数漂移,实际测试的脉宽设置为不大于1Its。测试原理如图5-59所示。 

   

   通过双路示波器对呢两端进行波形采样,波形中:从当栅源电压上升到10%栅驱动电压时到漏电流升到规定电流的10%时所经历的时间为导通延时时间;从当栅源电压下降到⒇%栅驱动电压时到漏电流降至规定电流的90%时所经历的时间,这显示电流传输到负载之前所经历的延迟为关断延时时间;漏极电流从10%上升到⒛%所经历的时间为上升时间;漏极电流从90%下降到10%所经历的时间为下降时间。测试时需要采用电感特性尽量小的负载,同时测试电路设计时需要降低电感效应




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6-23动态参数测试方法

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