从事可靠性预计、可靠性分析与分配、可靠性试验、数据采集等研究。虽然可靠性有定量的指标要求，若无相应的验证方法，那也会流于形式。G1117-33T63Uf二十世纪四五十年代在概率论和数理统计发展起来的基础上，开始了指标的试验验证。在此期间，美国国防部颁布了MIL-STD-781“可修复的电子设备可靠性试验等级和接收／拒收准则”，后修改为MIL-STD-781A“可靠性试验——指数分布”，后又修改为MII,-STD-781B“可靠性试验——指数分布”。随后产生了MIL-STD-690“失效率抽样方案和程序”，DOD-H-108“寿命和可靠性试验抽样程序和表格”等文件，这些标准为可靠性指标试验验证提供了具体方法，被世界各国采用。从工业部门的产品分类着眼，把设备和系统的可靠性视为元器件来处理。如MIL-STD-781将电子设备分为七类，分别对应环境条件A、B、C、D、E、F、G七个等级。G级最高，G级的温度为+95℃。MIL-STD-781A将电子设备分为十类，分别对应环境条件A、A-l、B、C、D、E、F、G、H、J十个等级。最高等级为J级，温度为+125℃。MIL-STD-781B关于电子设备酌分类与A相同，其差别在于，前者增加了用于全部产品的筛选（试验），其目的是去除有早期缺陷的产品，试验时间50h或1／4MTBF（Mean Time Between Failure，平均无故障时间），取其中的较小者。在试验方案上，采用了放宽和加严试验的转换规则。这些标准使用的环境条件是振动、温度和电压三个单项应力。