近年来，由于激光和光电技术在信息与军事方面的飞速发展，出现了探测精细表面下细小缺陷的难题。一方面表面质量越来越受到重视，因为强激光、 AAT3520IGY-2.63-200T1高灵敏度光电探测装置等都离不开超精细反射面；另一方面，集成电路技术与精密机械制造技术相结合的微电子机械系统( MEMS)已经引出了微型飞行器、微型卫星、微型机器人等一系列新技术，为了使这些技术能批量生产，形成商品，需要齐全的质量检测手段。目前，表面无损检测技术已经比较成熟，但对精细表面下的亚表面却没有理想的检测手段。

   对精细表面下( 0.5～7 mm)细小缺陷的传统检测方法，如渗透法，只适合于检测表面开口缺陷；，，射线照相法、超声波检测法等适合于探测深层内部缺陷；磁粉检测和电磁感应检测，影响因素复杂，检测分辨率低。磁光涡流成像(MOI)技术是一种新兴的涡流无损检测方法，它综合应用了法拉第电涡流效应与法拉第磁致旋光效应，可实现对亚表面细小缺陷的可视化无损检测。

   当一束线偏振光通过非旋光性介质时，如果沿着光的传播方向加一外磁场，则光通过介质后，它的振动面舍偏转一个角度臼，这就是法拉第磁致旋光效应或法拉第磁光效应，如图11.22所示，通过对自然旋光现象和法拉第磁光效应的研究可以得知，介质的自然旋光效应主要与晶体的微观螺旋结构有关，而磁光效应不仅与晶体结构有关，还与晶体材料的磁性、光的波长、外磁场的强度和频率以及磁化强度等参量有密切的关系。