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CMOS或门逻辑功能测试

发布时间:2015/8/18 21:20:11 访问次数:957

    在数字电路实验箱上验证CMOS或门逻辑关系,FDPF18N50将测试结果填入表2.1.5中。

   实验主要仪器

   1. 74LS20与非门    1片

   2.CD4072或门    1片

   3.数字电路实验箱    1台

   4.万用表及工具    1套

        

   实验报告内容

   1.说明门电路的外特性参数测试原理。

   2.记录和整理实验测试值,并对结果进行分析。

   3.总结实验过程中遇到的问题及其解决方法。

   表2.1.5 CD4072或门逻辑功能表

   思考题

   1.若用TTL与非门74LS20实现Y=AB,则多余输入端如何处理?

   2.若用CMOS或门CD4072实现Y=A+B,则多余输入端如何处理?

   3.在TTL门电路的外特性参数测试过程中,为什么输入端悬空相当于输入高电平?


    在数字电路实验箱上验证CMOS或门逻辑关系,FDPF18N50将测试结果填入表2.1.5中。

   实验主要仪器

   1. 74LS20与非门    1片

   2.CD4072或门    1片

   3.数字电路实验箱    1台

   4.万用表及工具    1套

        

   实验报告内容

   1.说明门电路的外特性参数测试原理。

   2.记录和整理实验测试值,并对结果进行分析。

   3.总结实验过程中遇到的问题及其解决方法。

   表2.1.5 CD4072或门逻辑功能表

   思考题

   1.若用TTL与非门74LS20实现Y=AB,则多余输入端如何处理?

   2.若用CMOS或门CD4072实现Y=A+B,则多余输入端如何处理?

   3.在TTL门电路的外特性参数测试过程中,为什么输入端悬空相当于输入高电平?


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