CMOS或门逻辑功能测试
发布时间:2015/8/18 21:20:11 访问次数:957
在数字电路实验箱上验证CMOS或门逻辑关系,FDPF18N50将测试结果填入表2.1.5中。
实验主要仪器
1. 74LS20与非门 1片
2.CD4072或门 1片
3.数字电路实验箱 1台
4.万用表及工具 1套
实验报告内容
1.说明门电路的外特性参数测试原理。
2.记录和整理实验测试值,并对结果进行分析。
3.总结实验过程中遇到的问题及其解决方法。
表2.1.5 CD4072或门逻辑功能表
思考题
1.若用TTL与非门74LS20实现Y=AB,则多余输入端如何处理?
2.若用CMOS或门CD4072实现Y=A+B,则多余输入端如何处理?
3.在TTL门电路的外特性参数测试过程中,为什么输入端悬空相当于输入高电平?
在数字电路实验箱上验证CMOS或门逻辑关系,FDPF18N50将测试结果填入表2.1.5中。
实验主要仪器
1. 74LS20与非门 1片
2.CD4072或门 1片
3.数字电路实验箱 1台
4.万用表及工具 1套
实验报告内容
1.说明门电路的外特性参数测试原理。
2.记录和整理实验测试值,并对结果进行分析。
3.总结实验过程中遇到的问题及其解决方法。
表2.1.5 CD4072或门逻辑功能表
思考题
1.若用TTL与非门74LS20实现Y=AB,则多余输入端如何处理?
2.若用CMOS或门CD4072实现Y=A+B,则多余输入端如何处理?
3.在TTL门电路的外特性参数测试过程中,为什么输入端悬空相当于输入高电平?
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