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集成电路的排列方式对其温升的影响实例

发布时间:2015/7/8 19:22:23 访问次数:558

    大量实践经验表明,采用合INA2141U理的元器件排列方式,可以有效地降低印制电路的温升,从而使器件及设备的故障率明显下降。

   此外,在离可靠应用场合,应该采用铜箔厚一些的印制电路板基材,这不仅可以增强印制电路板的散热能力,而且有利于降低印制导线的电阻值,提高机械强度。如选用铜箔厚度为70ym的印制电路板,相对于铜箔厚度为35)um的印制电路板,印制导线的电阻值可降低1/2,散热能力可增加一倍,而且在容易遭受剧烈振动和冲击的环境中,不容易出现断线之类的机械故障。

   图7. 10给出了大规模集成电路(LSI)和小规模集成电路(SSI)混合安装情况下的两种排列方式,LSI的功耗为1.5W,SSI的功耗为0.3W。实测结果表明,图7.lOa所示方式使LSI的温升达50℃,而图7.lOb所示辐射导致LSI的温升为40℃,然采用后一种方式对降低LSI的失效率更为有利。

      

   这个例子也说明,应该尽可能地使印制电路板上元器件的温升趋于均匀,这有助于降低印制电路板上器件的温度峰值。


    大量实践经验表明,采用合INA2141U理的元器件排列方式,可以有效地降低印制电路的温升,从而使器件及设备的故障率明显下降。

   此外,在离可靠应用场合,应该采用铜箔厚一些的印制电路板基材,这不仅可以增强印制电路板的散热能力,而且有利于降低印制导线的电阻值,提高机械强度。如选用铜箔厚度为70ym的印制电路板,相对于铜箔厚度为35)um的印制电路板,印制导线的电阻值可降低1/2,散热能力可增加一倍,而且在容易遭受剧烈振动和冲击的环境中,不容易出现断线之类的机械故障。

   图7. 10给出了大规模集成电路(LSI)和小规模集成电路(SSI)混合安装情况下的两种排列方式,LSI的功耗为1.5W,SSI的功耗为0.3W。实测结果表明,图7.lOa所示方式使LSI的温升达50℃,而图7.lOb所示辐射导致LSI的温升为40℃,然采用后一种方式对降低LSI的失效率更为有利。

      

   这个例子也说明,应该尽可能地使印制电路板上元器件的温升趋于均匀,这有助于降低印制电路板上器件的温度峰值。


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