电位器的失效分析
发布时间:2015/6/28 19:53:27 访问次数:925
从前面的介绍中知,MCF5271CAB100线绕或非线绕电位器共同的失效模式有:参数漂移、开路、短路、接触不良、动噪声大、机械损伤等,但是,实际数据表明,试验室试验与现场使用之间主要的失效模式差异较大。表5.3列出了它们之间的失效模式分布百分比数据。
表5.3 电位器在试验室与现场使用中的失效模式分布
从前面的介绍中知,MCF5271CAB100线绕或非线绕电位器共同的失效模式有:参数漂移、开路、短路、接触不良、动噪声大、机械损伤等,但是,实际数据表明,试验室试验与现场使用之间主要的失效模式差异较大。表5.3列出了它们之间的失效模式分布百分比数据。
表5.3 电位器在试验室与现场使用中的失效模式分布
上一篇:金属膜电阻器的失效分析
上一篇:参数漂移或阻值超差
热门点击
- 三线阵CCD相机的立体测绘原理
- 空气介质可变电容器
- 狭缝式色散成像光谱仪原理
- 经纬仪的误差来源
- 成像光谱仪的光谱定标
- 转像系统的设计
- 锌汞电池
- 灵敏杠杆杠杆比的确定
- 气体传感器的计算方法与校准方法
- 机构传递运动的过程及其基本传递公式
推荐技术资料
- 单片机版光立方的制作
- N视频: http://v.youku.comN_sh... [详细]