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确认失效阶段的任务有

发布时间:2015/6/26 19:41:23 访问次数:681

    确认失效阶段的任务有:1)发生时间(季节依赖性,如多湿或干燥);2)发生地点(包括工序、检查、可靠性试验、现场等);3)使用环境(包括室内、室外、周围环境的温湿度等);4)位用条件(电压、负荷等工作条件);5)失效产品的履历(生产数量、工序、检查不合格率);6)MC68360AI25VL批量的依赖性(批量的发生率、过去的发生率);7)失效的症状(包括恶化变质、破坏、复现性有无等);8)使用履历(包括工作状况和工作时间等);9)失效产品信息(目录、特性试验资料)。

   非破坏性检查试验阶段的任务有:1)外观检查沾染、损伤、断裂、弯曲(如采用目视、显微镜观察、照片、近摄等方式);2)功能、特性参数等各项电气试验;3)结构缺陷等的内部检查;4)与性能缺陷有关的沾染的化学洗涤;5)为检出内部反带缺陷的X光透视;6)密封失效件的泄漏试验(如管壳漏气检查,可用放射性质谱检漏仪做细检,后用氟碳法做粗检);7)为检出内部反常缺陷,测定温度分布。

   半破坏性检查试验阶段的任务有:1)为检查内部结构,开封管壳;2)检查在生产、组装工序中所附着的沾染物;3)利用各种显微镜检查内部;4)利用探测器进行电气试验;5)测定失效产品表面的形状、膜厚等(如用显微光波干涉仪测定芯片的表面);6)为鉴别组成材料的机械分析。    

   破坏性检查试验阶段的任务有:1)制作显示内部的断面(采用开封管壳后切割、研磨等方式);2)为鉴别组成材料的机械分析(拆除内部连接或把元器件芯子从封装中分量出来的试验方式);3)试验使用材料的机械强度(如对封装或元器件芯子采用振动、冲击、温度循环等破坏性机械试验);4)进行物性分析(如红外光谱仪、质量分析、X光分析、气相色谱法、放射性摄谱仪、原子吸收分析法、电子显微镜、X光荧光分析等)。


    确认失效阶段的任务有:1)发生时间(季节依赖性,如多湿或干燥);2)发生地点(包括工序、检查、可靠性试验、现场等);3)使用环境(包括室内、室外、周围环境的温湿度等);4)位用条件(电压、负荷等工作条件);5)失效产品的履历(生产数量、工序、检查不合格率);6)MC68360AI25VL批量的依赖性(批量的发生率、过去的发生率);7)失效的症状(包括恶化变质、破坏、复现性有无等);8)使用履历(包括工作状况和工作时间等);9)失效产品信息(目录、特性试验资料)。

   非破坏性检查试验阶段的任务有:1)外观检查沾染、损伤、断裂、弯曲(如采用目视、显微镜观察、照片、近摄等方式);2)功能、特性参数等各项电气试验;3)结构缺陷等的内部检查;4)与性能缺陷有关的沾染的化学洗涤;5)为检出内部反带缺陷的X光透视;6)密封失效件的泄漏试验(如管壳漏气检查,可用放射性质谱检漏仪做细检,后用氟碳法做粗检);7)为检出内部反常缺陷,测定温度分布。

   半破坏性检查试验阶段的任务有:1)为检查内部结构,开封管壳;2)检查在生产、组装工序中所附着的沾染物;3)利用各种显微镜检查内部;4)利用探测器进行电气试验;5)测定失效产品表面的形状、膜厚等(如用显微光波干涉仪测定芯片的表面);6)为鉴别组成材料的机械分析。    

   破坏性检查试验阶段的任务有:1)制作显示内部的断面(采用开封管壳后切割、研磨等方式);2)为鉴别组成材料的机械分析(拆除内部连接或把元器件芯子从封装中分量出来的试验方式);3)试验使用材料的机械强度(如对封装或元器件芯子采用振动、冲击、温度循环等破坏性机械试验);4)进行物性分析(如红外光谱仪、质量分析、X光分析、气相色谱法、放射性摄谱仪、原子吸收分析法、电子显微镜、X光荧光分析等)。


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