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电路输出端上闩锁发生情况

发布时间:2015/6/25 21:07:33 访问次数:1046

   电路输出端闩锁触发的等效电路如图4. 20所示。当输出端上存在正的外部噪声时,寄HCPL-7860P生PNP管VT.,的E-B结正向偏置,基极电流通过Rs流入UDD中,VT.,管导通,其集电极电流通过P阱内部Rw进入Us。,Rw上产生压降,当VT,z管的UBE达到正向导通电压时,VT,。导通,VT,。的集电极电流流向VT.,基极使其电位降低,VT.,进一步导通结果使UDD与Uss之间形成低阻电流通路,这就发生了闩锁。

      

   a)输出电路    b)寄生SCR等效电路

   c)电路剖面和寄生SCR结构

   图4. 20  电路输出端上闩锁发生情况

   温度升高,晶体管E-B结正向导通电压下降,电流增益和寄生电阻随温度升高而增大,导致维持电流IH随温度升高而下降。另外,PN结反向漏电随温度上升而增大,而P阱衬底结的反向漏电正是寄生SCR结构的触发电流,所以高温下闩锁更易发生。

   电路输出端闩锁触发的等效电路如图4. 20所示。当输出端上存在正的外部噪声时,寄HCPL-7860P生PNP管VT.,的E-B结正向偏置,基极电流通过Rs流入UDD中,VT.,管导通,其集电极电流通过P阱内部Rw进入Us。,Rw上产生压降,当VT,z管的UBE达到正向导通电压时,VT,。导通,VT,。的集电极电流流向VT.,基极使其电位降低,VT.,进一步导通结果使UDD与Uss之间形成低阻电流通路,这就发生了闩锁。

      

   a)输出电路    b)寄生SCR等效电路

   c)电路剖面和寄生SCR结构

   图4. 20  电路输出端上闩锁发生情况

   温度升高,晶体管E-B结正向导通电压下降,电流增益和寄生电阻随温度升高而增大,导致维持电流IH随温度升高而下降。另外,PN结反向漏电随温度上升而增大,而P阱衬底结的反向漏电正是寄生SCR结构的触发电流,所以高温下闩锁更易发生。

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6-25电路输出端上闩锁发生情况

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