可靠性筛选所施加的应力强度只加速在正常使用条件下发生的失效机理，CS5532-ASZ而不出现新的失效因子，以保证工艺筛选的合理性和高效率，使得在最短时间内将早期失效的产品剔除，而对好的产品又不产生损伤。因此，应力强度过大或过小，时间过长或过短均带来不好的结果。

   对于工艺过关、生产稳定的元器件，可以从大量产品的使用情况中统计出失效率与应力强度的关系曲线，如图3.8所示。从图3.8中可以看出：曲线显示出两种失敖分布，区域A为正态分布，表征可靠产品的失效特性，可靠产品的平均失效应力远在产品平均使用应力之外；区域B、C、D代表使用中的不可靠产品，实际使用时的平均应力分布一般较低；因此，应在不超过筛选应力上限的情况下，选择适当的筛选应力强度，如某类型的硅半导体管，其筛选应力上限为200℃，平均使用应力在45℃左右，平均失效应力在350℃以上。    ’

   筛选时间是与筛选试验项目和应力有关的，可通过摸底试验来确定。一般来说，可以做出筛选应力下的失效率分布曲线，如图3.9所示，选择筛选时应是曲线转折点，即早期失效期的终端。

   筛选时间可以通过统计分析方法来确定，例如老化筛选，它是可靠性筛选中常用的一种方法。下面介绍通过摸底试验初步确定老化筛选时间的方法。