OTDR技术中使用了后向散射光的强度信息，而POTDR法是利用后向散射光的偏振态信息进行分布式测量的技术。

   光纤在外部扰动的影响下，DK-621-0434-1S光纤中光的偏振状态发生变化，检测偏振状态的变化，就能得到外部扰动的大小和位置。图11 - 35所示是POTDR法的基本原理图。在该方法中，只要测量出进入解偏器前后光功率的大小，就可通过有关公式得到被测参量的信息。

   POTDR法的空间分辨力同样受到光检测器响应时间的限制，而且被测量的测量精度最终受功率测量精度的影响。此外，进入解偏器前后光功率的大小随光源输出功率的变化而变化，所以光源的稳定性是一个重要问题。

   波长扫描法是用白光照射保偏光纤，运用快速傅里叶算法来确定模式耦合系数的分布，图11 - 36为其原理图。当高双折射保偏光纤受到外部扰动作用时，就会引起相位匹配的模式，即光的上部分从一种模式转换为另一种模式。由于本征模以不同的速度在光纤中传播，从耦合点到光纤输出端之间的相位变化与光程成正比，所以，从两个本征模的相对幅度的大小就可以得到被测参数的信息。WLS法测量的范围与光纤模式双折射差的倒数成正比所以，使用低双折射光纤可以得到大的测量范围，其空间分辨力正比于入射光的相干长度，从而使传感器的测量范围正比于单色仪出射光的相干度，该系统分辨力高，可达到0. 3cm，光源成本较低；但整个系统测量范围小，系统成本昂贵，不利于实用化。