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对电子元器件产品的失效率试验

发布时间:2019/4/20 10:00:19 访问次数:867

    L6562DTR

  

  要了解经过筛选的元器件或材料产品可靠性究竟如何,还必须从该批产品中抽取一定数量的样品,进行失效率鉴定试验,特别是有可靠性指标的产品,其失效率等级的确定、升级都要经过这类试验,来加以确认.在维持试验时,置信度取10%,这是因为维持试验是建立在定级试验合格的基础上进 行的,因而要求上可以放宽些,从而以较小的代价来对产品的失效率进行监视。为了弥补 置信度取得较低的缺陷,规定维持试验的允许失效数不准取零。同时,维持试验是连续采 取的,失效率处于临界状态的产品要能连续通过几个周期的维持试验都合格的概率是不大的。也就是说,把处于临界状态的产品,甚至不合格的产品判为合格的可能性不大。例 如,产品的真实失效率为1×10-5/小时,要通过5级的定级试验(置信度为60%)及连续三 次5级维持试验的概率是0.4×0.9×0.9×0. 9=0. 29,即不到30%;如果定级试验用的置 信度是90%,那么三次5级维持试验合格的概率只有7.3%。

    因此,如果置信度取高了,就会增大把本来符合某一失效率等级要求 的产品鉴定为不合格的概率。以5级定级试验为例,若C(允许失效数)为1,置信度取 60%,则真实失效率为0.5×10-5/小时的产品被鉴定为5级的概率只有73%;若置信度取 90%,则同批产品被鉴定为5级的概率仅为42%。显然,置信度取得太高,把本来合格的 产品判为不合格的概率增大,这对生产方不利。但是也不能把置信度取得太低,否则,可能增大把失效率等级不合格的产品判为合格的概率,这对使用方危险性增加。另外, 要求产品的失效率属于某一级水平,总不能按这一等级的最大失效率来交付产品,必须要求产品的实际失效率远低于定级试验的最大失效率,才能被顺利通过。失效率试验分为:定级试验,即首次确定产品的失效率等级而进行的试验;维持试验,即为证明产品的失效率等级仍不低于定缀试验或升级试验后所确定的失效率等级而进行的试验;升级试验,即为证明产品的失效率等级比原定的失效率等级更高而进行的试验。对电子元器件产品的失效率试验,一般从五级开始,试验条件应在产品技术标准所规定的额定条件下进行,因为鉴定试验所确定的失效率等级是一个基本失效率,而不是产品使用条件下的失效率。



   在确定失效率等级时还有一个置信度的选取问题,定级和升级试验的置信度一般取60%,只有在有特殊要求时,才选取90%。这是因为失效率试验的抽样方案与一般质量检验的计数抽样方案不同,即当产品的真实失效率等于某一等级的最大失效率时,它不应看作不合格的失效率。   此外,如果元器件失效率的置信度取得道高,那么利用元器件的失效率数据对设备或系统进行可靠性预计时,得出的设备或系统的故障率置信度就更高,导致预计结果会过于保守。同时,为了得出同样的结论,试验所需要的时间和费用均随置信度的提高而增加,因此元器件失效率的置信度不能取得太高。






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  要了解经过筛选的元器件或材料产品可靠性究竟如何,还必须从该批产品中抽取一定数量的样品,进行失效率鉴定试验,特别是有可靠性指标的产品,其失效率等级的确定、升级都要经过这类试验,来加以确认.在维持试验时,置信度取10%,这是因为维持试验是建立在定级试验合格的基础上进 行的,因而要求上可以放宽些,从而以较小的代价来对产品的失效率进行监视。为了弥补 置信度取得较低的缺陷,规定维持试验的允许失效数不准取零。同时,维持试验是连续采 取的,失效率处于临界状态的产品要能连续通过几个周期的维持试验都合格的概率是不大的。也就是说,把处于临界状态的产品,甚至不合格的产品判为合格的可能性不大。例 如,产品的真实失效率为1×10-5/小时,要通过5级的定级试验(置信度为60%)及连续三 次5级维持试验的概率是0.4×0.9×0.9×0. 9=0. 29,即不到30%;如果定级试验用的置 信度是90%,那么三次5级维持试验合格的概率只有7.3%。

    因此,如果置信度取高了,就会增大把本来符合某一失效率等级要求 的产品鉴定为不合格的概率。以5级定级试验为例,若C(允许失效数)为1,置信度取 60%,则真实失效率为0.5×10-5/小时的产品被鉴定为5级的概率只有73%;若置信度取 90%,则同批产品被鉴定为5级的概率仅为42%。显然,置信度取得太高,把本来合格的 产品判为不合格的概率增大,这对生产方不利。但是也不能把置信度取得太低,否则,可能增大把失效率等级不合格的产品判为合格的概率,这对使用方危险性增加。另外, 要求产品的失效率属于某一级水平,总不能按这一等级的最大失效率来交付产品,必须要求产品的实际失效率远低于定级试验的最大失效率,才能被顺利通过。失效率试验分为:定级试验,即首次确定产品的失效率等级而进行的试验;维持试验,即为证明产品的失效率等级仍不低于定缀试验或升级试验后所确定的失效率等级而进行的试验;升级试验,即为证明产品的失效率等级比原定的失效率等级更高而进行的试验。对电子元器件产品的失效率试验,一般从五级开始,试验条件应在产品技术标准所规定的额定条件下进行,因为鉴定试验所确定的失效率等级是一个基本失效率,而不是产品使用条件下的失效率。



   在确定失效率等级时还有一个置信度的选取问题,定级和升级试验的置信度一般取60%,只有在有特殊要求时,才选取90%。这是因为失效率试验的抽样方案与一般质量检验的计数抽样方案不同,即当产品的真实失效率等于某一等级的最大失效率时,它不应看作不合格的失效率。   此外,如果元器件失效率的置信度取得道高,那么利用元器件的失效率数据对设备或系统进行可靠性预计时,得出的设备或系统的故障率置信度就更高,导致预计结果会过于保守。同时,为了得出同样的结论,试验所需要的时间和费用均随置信度的提高而增加,因此元器件失效率的置信度不能取得太高。






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