在储存器的测试中,BIST设计测试是比较容易达成的。例如,储存器的扫描图形(sca n pattcrn)、OB2354AP行进图形(march pattern)的地址信号产生是规则而且重复的,从0逐一累加到最大地址,或从最大地址逐一递减到0,在电路的设计上可以用计数器简单达成。内建储存器 的%C芯片的测试都会采用这种测试设计(memBIST,MBIST)。

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