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非晶体

发布时间:2017/4/29 12:45:16 访问次数:461

   非晶体( amorphous):原子旱无序排列的材料,如塑料。

放大光刻胶( amplified resist):用增加化学品增强化学反应的光刻胶,埃(A):长度单位,l埃等于l¨m的万分之-(10。4¨m),或100 000 000 A=i cm。ADC10464CIWMX+

    各向异性( anistropic):刻蚀的一种工艺,不会或很少造成钻蚀。退火( anneal):-种高温I:艺过程(通常是最后一步)。用来将晶圆晶格结构中的应力降至最低,锑(Sb):元素周期表中第V族元素。在硅中是N型掺杂,经常作为掩埋层的掺杂物。

   防反射涂层(ARC):在曝光过程中为r减少反射,在晶圆表面增加的一层化学涂层。砷(As):元素周期表中第v族元素.、是硅中的N型掺杂物。

   封装( assembly):芯片制造后的一系列工序。、将晶圆分割成单个的芯片,并安放和连接到一个封装体上J-。常压氧化( atmospheric oxidation):一种在一个大气压下的硅氧化过程。做热氧化的设备与热扩散的设备相同,由4部分组成:提供厦应源的机柜、反应室、加热源,以及一个晶圆承载器.、

    原子力显微镜(AFM):一种描绘晶圆表面形貌的显微镜,其输出是由一个带有弹簧的探针在所测表面移动得到的。

   原子层淀积( atomic layer deposition):-次增加(淀积)一层原子层的一种方法。原子数( atomic number):每种化学元素的固有数字,等于原子中的质子数(或电子数)、原子微粒( atomic particle):原子的组成部分,包括电子、质子和中子。

 


   非晶体( amorphous):原子旱无序排列的材料,如塑料。

放大光刻胶( amplified resist):用增加化学品增强化学反应的光刻胶,埃(A):长度单位,l埃等于l¨m的万分之-(10。4¨m),或100 000 000 A=i cm。ADC10464CIWMX+

    各向异性( anistropic):刻蚀的一种工艺,不会或很少造成钻蚀。退火( anneal):-种高温I:艺过程(通常是最后一步)。用来将晶圆晶格结构中的应力降至最低,锑(Sb):元素周期表中第V族元素。在硅中是N型掺杂,经常作为掩埋层的掺杂物。

   防反射涂层(ARC):在曝光过程中为r减少反射,在晶圆表面增加的一层化学涂层。砷(As):元素周期表中第v族元素.、是硅中的N型掺杂物。

   封装( assembly):芯片制造后的一系列工序。、将晶圆分割成单个的芯片,并安放和连接到一个封装体上J-。常压氧化( atmospheric oxidation):一种在一个大气压下的硅氧化过程。做热氧化的设备与热扩散的设备相同,由4部分组成:提供厦应源的机柜、反应室、加热源,以及一个晶圆承载器.、

    原子力显微镜(AFM):一种描绘晶圆表面形貌的显微镜,其输出是由一个带有弹簧的探针在所测表面移动得到的。

   原子层淀积( atomic layer deposition):-次增加(淀积)一层原子层的一种方法。原子数( atomic number):每种化学元素的固有数字,等于原子中的质子数(或电子数)、原子微粒( atomic particle):原子的组成部分,包括电子、质子和中子。

 


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