静电放电可能产生的如下后果:直接通过能量交换引起半导体器件的损坏,或引起电场与磁场变化, BCP56-16T1G造成设备误动作。

   对不同试验结果,可以根据该产品的工作条件和功能规范按以下内容分类:

   A:技术要求范围内的性能正常;

   B:功能暂时降低或丧失,但可自行恢复性能;

   C:功能暂时降低或丧失,要求操作人员干预或系统复位;

   D:由于设备(元器件)或软件的损坏或数据的丧失,而造成不可恢复的功能降低或丧失。

    符合A的产品,试验结果判合格。这意味着产品在整个试验过程中功能正常,性能指标符合技术要求。

   符合B的产品,试验结果应视其产品标准、产品使用说明书或者试验大纲的规定,当认为某些影响不重要时,可以判为合格。

   符合C的产品,试验结果除了特殊情况并且不会造成危害以外,多数判为不合格。

   符合D的产品,判别为不合格。

   符合B和C的产品试验报告中应写明B类或C类评判依据。符合B类应记录其丧失功能的时间。