要判断清楚失效模式，只有借IDT7027L20PF助于X肘线透视检查及电性能测试来加以确认。X射线检查可确定第一种失效模式，而测试线圈电阻便可判断是否存在第2种、第3种失效模式。通过测试灵敏度，也可以判断是否存在吸合不良的失效模式；用X射线检查不仅能检查吸合不良的失效模式，而且能检查如推动杆碰擦外壳、衔铁与铁心之间存在粒状污染物等打开外罩后可能消失的失效模式和失效机理。通过上述检查分析，便可以判断其具体的失效模式及失效发生的部位。由于失效模式与失效机理不是一一对应，因此，单靠所获得的失效信息及失效模式还很难对其失效机理进行推断，必须利用解剖分析来对上述各种信息综合分析，推断出失效机理。

   例如，密封电磁继电器接触不良，可以是接点污染、接触簧片应力松弛、电腐蚀及磁隙增大等失效机理造成的。X射线检查可排除磁隙增大这种失效机理；接点电腐蚀可以凭经验及分析加以排除；接点簧片应力松弛需打开外罩后测量接触压力才能确

定；接点污染除打开外罩分析接点表面外，开罩前对其检漏，分析密封腔内的气体成分也是十分重要的。若失效机理是接点污染，则其污染源可以来自继电器本身（如装调、清洗等过程带入的污染，或者由于有机绝缘材料溢出的有机气体等），也可以来自外界（如有害气体的侵入，或水蒸气的侵入等）。来自外界的污染源可用氦质谱检漏仪检查何处存在微漏孔，如不存在则必然来自内部。若污染源来自内部，可进行试样腔内的气体成分及含量分析；或者直接分析继电器的有机材料的性能及其排气工艺；或者改变工艺条件的对比试验等来加以判断。这样一步一步地深入，以便推断出比较符合实际的失效机理。