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R
XCR3128 ： 128宏单元CPLD
140
120
100
I
CC
（MA ）
80
60
40
20
0
0
20
40
频率（MHz）
SP00471
60
80
100
图5 ：我
CC
与频率的关系@ V
CC
= 3.3V ，25°C
表1：我
CC
与频率的关系
(V
CC
= 3.3V ， 25 ° C）
频率（MHz）
典型的我
CC
（MA ）
0
.03
1
.06
20
12
40
24
60
35
80
46
100
63
JTAG测试功能
JTAG是常用缩写边界
扫描由集成电路所定义的测试（BST）特征
IEEE标准1149.1 。这个标准定义了输入/输出
销，逻辑控制功能，以及便于命令
无需使用spe-双方董事会和设备级测试
cialized测试设备。 BST提供测试能力
设备的外部连接，测试的内部逻辑
从设备在正常的装置，和捕获数据
操作。 BST提供了在每一个具有许多优点
以下几个方面：
可测性
- 允许无限数量的测试
在印刷电路板的互连
- 可测试性是在组件级设计
- 使被设定在特定的所希望的信号电平
销（预载）
从销或核心逻辑信号的数据可以被检查
在正常操作期间
可靠性
- 消除了通用的现有测试物理接触
固定装置（例如， "bed -OF- nails" ）
- 测试设备退化不再是
关心
- 有利于小型，表面贴装的处理
组件
- 允许测试时，组件上都存在
在印刷电路板的两面
成本
- 减少/消除了对昂贵的测试
设备
- 缩短测试准备时间
- 减少备用板库存
-
赛灵思XCR3128的JTAG接口包括一个TAP端口
和一个TAP控制器，这两者都是由IEEE定义的
1149.1 JTAG规范。由于实施了赛灵思
6
DS034 （ V1.2 ） 2000年8月10日
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