
288MB : X9 , X18 , X36 2.5V V
EXT
, 1.8V V
DD
, HSTL , CIO , RLDRAM II
IEEE 1149.1串行边界扫描( JTAG )
图46:
TAP时序
T1
测试时钟
( TCK )
tTHTL
tMVTH
tTHMX
T2
T3
T4
T5
T6
t
第TL
tTHTH
测试模式选择
(TMS)的
tDVTH
tTHDX
测试数据,在
( TDI)的
tTLOV
tTLOX
测试数据输出
( TDO )
未定义
不在乎
表23:
描述
TAP输入AC逻辑电平
+0°C
≤
T
C
≤
+ 95°C ; + 1.7V
≤
V
DD
≤
+ 1.9V ,除非另有说明
符号
V
IH
V
IL
1.所有电压参考V
SS
(GND)。
民
V
REF
+ 0.3
–
最大
–
V
REF
- 0.3
单位
V
V
输入高电平(逻辑1 )电压
输入低电平(逻辑0 )电压
注意事项:
表24 :
描述
时钟
TAP AC电气特性
+0°C
≤
T
C
≤
+ 95°C ; + 1.7V
≤
V
DD
≤
+1.9V
符号
t
THTH
f
民
最大
单位
时钟周期时间
时钟频率
时钟高电平时间
时钟低电平时间
TDI / TDO次
TCK低到TDO未知
TCK低到TDO有效
TDI有效期至TCK高
TCK HIGH到TDI无效
设置时间
TMS设置
捕捉设置
保持时间
TMS保持
捕获保持
注意事项:
20
50
10
10
0
10
5
5
5
5
5
5
TF
t
THTL
t
第TL
ns
兆赫
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
TLOX
t
TLOV
t
DVTH
t
THDX
t
t
MVTH
t
CS
t
若THMx端
t
CH
1.
t
CS和
t
CH指的是建立和保持从bound-锁存数据的时间要求
元扫描寄存器。
PDF : 09005aef80a41b46 /来源: 09005aef809f284b
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