288MB ： X9 ， X18 ， X36 2.5V V
EXT
, 1.8V V
DD
， HSTL ， CIO ， RLDRAM II
IEEE 1149.1串行边界扫描（ JTAG ）
TAP指令集
概观
许多不同的指令（ 2
8
）是可能的8位指令寄存器。所有
使用组合列于表28这六个指令说明74页
下面详细。其余的指示被保留，不应使用。
在这RLDRAM使用TAP控制器是完全符合1149.1约定。
说明在shift-IR状态加载到TAP控制器时，
指令寄存器被放置在TDI和TDO之间。在这种状态下，指令是
通过通过TDI和TDO球指令寄存器转移。要执行
指令一旦被移位， TAP控制器需要移动到Update -IR
状态。
EXTEST
EXTEST指令允许外部的部件封装的电路进行测试。
边界扫描寄存器单元在输出球用于施加测试向量，而在
输入球捕捉的测试结果。典型地，使用被施加第一测试矢量
EXTEST指令将使用预置移入边界扫描寄存器
指令。因此，在EXTEST的更新- IR状态时，输出驱动器被接通时，
和写入数据被驱动到输出的球。
IDCODE
IDCODE指令导致供应商特定的32位代码加载到
指令寄存器。它还会将TDI和TDO球之间的指令寄存器
并允许将IDCODE要移位装置的出当TAP控制器进入
在shift-DR状态。 IDCODE指令被装入后，指令寄存器
电或每当TAP控制器给出一个测试逻辑复位状态。
高-Z
高阻指令导致的边界扫描寄存器连接之间的
TDI和TDO 。这会将所有的RLDRAM输出为高阻状态。
钳
当钳位指令加载到指令寄存器中，数据驱动
输出球从边界扫描寄存器中保存的值来确定。
采样/预
当SAMPLE / PRELOAD指令加载到指令寄存器和
TAP控制器处于Capture -DR状态下，输入和双向数据快照
tional球被捕获在边界扫描寄存器。
用户必须意识到， TAP控制器时钟的频率最高只能操作
到50兆赫，而RLDRAM时钟显著更快操作。因为有一个大
的时钟频率之间的差异，这是可能的，在Capture-DR状态，
输入或输出将发生转变。那么TAP可以尝试捕捉信号
而在过渡时期（稳态） 。这不会损害该设备，但不存在瓜尔
antee ，以将捕捉到的值。可重复的结果可能是不可能的。
以确保该边界扫描寄存器将捕获的信号的正确的值，则
RLDRAM信号必须稳定足够长的时间，以达到TAP控制器的捕获
建立加保持时间（
t
CS加
t
CH）。该RLDRAM时钟输入可能不会被捕获
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