电气特性
J2
J3
V
IH
J3
TCLK
（输入）
J4
V
IL
J4
图22.测试时钟输入时序
TCLK
V
IL
J5
V
IH
J6
数据输入
J7
输入数据有效
数据输出
J8
输出数据有效
数据输出
J7
数据输出
输出数据有效
图23.边界扫描（ JTAG ）时序
TCLK
V
IL
J9
V
IH
J10
TDI
TMS
J11
输入数据有效
TDO
J12
输出数据有效
TDO
J11
TDO
输出数据有效
图24.测试访问端口时序
TCLK
J14
TRST
J13
图25. TRST时序
MCF537x的ColdFire
微处理器数据手册，第3
34
飞思卡尔半导体公司
