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电气和热特性
8.34
延迟[ NS ]
t
data_valid_max
4.59
t
data_sample_min
t
data_sample_min
t
data_valid_min
内存中的数据有效窗口
可能的样本
时间过PVT一
选择节拍延迟
1.55
工作节拍延时范围
样品位置B
工作节拍延时范围
样品位置A
0
选择节拍延迟
31
抽头延时数
图8.读数据采样窗口取决于tap延迟数
在T的位置
DATA_VALID
窗口是依赖于时钟/数据飞行时间在黑板上。该MDQS
信号指示该读出的数据是有效的。如果控制器不能够检测到一个有效的MDQS信号上的
采样时间（样品位置A ），则控制器将寻找有效MDQS /数据上的下一个边缘
该MEM_CLK信号（样品位置B） 。依赖于主板的旅行时间，不同的工作节拍延迟
配置是可能的。用于快速连接的数据将与下一个沿采样
MEM_CLK ，这表明
图8中，
样品A位置用较长的连接，也许两个样本
位置是可能的。
图8
示出了具有两个工作样本位置（A和B）的一个例子。有
大板延迟只有样品位置B，将成为可能。
下面的等式示出了如何计算的上限和下限。正确的节拍延迟数是
选择，则当可能的最大和最小采样定时是内存储器中的数据有效窗口。
t
data_sample_max
= MAX （ （ 1.55 + TapNum * 0.095 ） ， （ 1.74 + TapNum * 0.045 ） ）
t
data_sample_min
= MIN （ （ 1.55 + TapNum * 0.095 ） ， （ 1.74 + TapNum * 0.045 ） ）
MPC5200数据手册，第4
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飞思卡尔半导体公司
