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ADIS16204
编程和控制
控制寄存器概述
该ADIS16204提供了许多控制可编程特性
通过写命令到相应的控制寄存器。该
使用以下功能进行配置：
全局命令
校准
操作控制
采样率
电源管理
DAC输出
数字I / O
运行状况和诊断
自检
现状条件
警报
事件捕获
控制寄存器结构
该ADIS16204采用的是临时的，基于SRAM的内存struc-
TURE ，以便于表7中所显示的控制寄存器
启动的设置被存储在快闪存储器结构，其
在启动时自动加载到控制寄存器
序列。每个非易失性寄存器都有相应的闪存
用于存储最新的配置内容存储位置。
因为闪速存储器具有耐力的限制，其内容
每个非易失性寄存器必须被存储到手动闪烁。
注意，控制寄存器的内容都是唯一的nonvola-
当它们被存储到闪存瓦。闪存更新命令，
在命令寄存器可用，提供了这种功能。
耐力寄存器提供了一个计数器，它允许
用于对闪存的内存可靠性管理
写周期规范。
表7.控制寄存器映射
名字
耐力
XACCL_NULL
YACCL_NULL
XACCL_SCALE
YACCL_SCALE
CAP_BUF_1
CAP_BUF_2
ALM_MAG1
ALM_MAG2
ALM_CTRL
CAPT_PNTR
AUX_DAC
GPIO_CTRL
MSC_CTRL
SMPL_PRD
CAPT_CFG
SLP_CNT
状态
命令
1
2
TYPE
R
读/写
读/写
读/写
读/写
R
R
读/写
读/写
读/写
读/写
读/写
读/写
读/写
读/写
读/写
W
R
W
挥发性
1
非易失性
非易失性
非易失性
非易失性
非易失性
挥发物
挥发物
非易失性
非易失性
非易失性
挥发物
挥发物
挥发物
非易失性
2
非易失性
非易失性
挥发物
挥发物
不适用
地址
0x01, 0x00
0X02为0x0F
0x11, 0x10
0x13, 0x12
0x15, 0x14
0x17, 0x16
为0x18 ，为0x1B
0x1D ，为0x1C
0x1F的， 0X1E
0x21, 0x20
0x23, 0x22
0X24和Ox27
0x29, 0x28
0x2B访问， 0x2A
0x2A到值为0x2F
0x31, 0x30
0x33, 0x32
0x35, 0x34
0x37, 0x36
0x39, 0x38
0x3B ， 0x3A的
0x3D之间，为0x3C
0x3F的， 0x3E的
字节
2
14
2
2
2
2
4
2
2
2
2
2
2
2
6
2
2
2
2
2
2
2
2
功能
闪存的写入计数器
输出数据寄存器
X轴偏移零校准寄存器
Y轴偏移零校准寄存器
X轴标度因数校正寄存器
Y轴标度因数校正寄存器
输出数据寄存器
捕捉缓冲器输出寄存器1
捕捉缓冲器输出寄存器2
报警1幅度阈值
报警2幅度阈值
版权所有
报警源控制寄存器
捕获寄存器地址指针
版权所有
辅助DAC数据
辅助数字I / O控制寄存器
杂项控制寄存器
ADC采样周期控制寄存器
捕获配置寄存器
计数器用来确定长度
掉电模式
系统状态寄存器
系统命令寄存器
参考表
表26
表6
表10
表11
表12
表13
表6
表37 ，表38
表37 ，表38
表32 ，表34
表33 ，表34
表30 ，表31
表39 ，表40
表19 ，表20中
表21 ，表22中
表24 ，表25
表15 ，表16中
表35 ，表36
表17 ，表18中
表27 ，表28
表8，表9
为了建立非易失性状态，闪速存储器，必须更新控制寄存器后进行更新。
8位清除内部自检程序完成后，有效地使该位波动。
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