【可编程高g数字冲击传感器和记录器ADIS16204特点双轴传感， ± 70g,±37g14位分辨率冲】,IC型号ADIS16204/PCBZ,ADIS16204/PCBZ PDF资料,ADIS16204/PCBZ经销商,ic,电子元器件-51电子网

可编程高g数字

冲击传感器和记录器

ADIS16204

特点

双轴传感， ± 70

±37

14位分辨率

冲击峰值电平采样和保持

RSS输出

可编程事件记录

400 Hz的双极贝塞尔传感器响应

数字控制的灵敏度和偏置

数字控制采样率，高达4096 SPS

可编程状态监测报警

辅助数字I / O

数字激活自测试

嵌入式温度传感器

可编程电源管理

SPI兼容串行接口

12位辅助ADC输入和DAC输出

单电源供电： + 3.0V至+ 3.6V

4000

供电抗冲击能力

功能框图

AUX

ADC

AUX

DAC VREF

ADIS16204

温度

传感器

惯性的

MEMS

传感器

数字

处理

SPI

PORT

SCLK

DIN

自检

VDD

数字

控制

DOUT

信号

空调

和

转变

动力

管理

警报

辅

I / O

EVENT

CAPTURE

卜FF器

内存

06448-001

COM

RST

DIO1 DIO2

图1 。

应用

碰撞或冲击检测

贵重货物的状态监控

安全，关断检测

撞击事件记录

安全检测，篡改检测

概述

该ADIS16204是一款完全包含可编程的影响

在一个紧凑的封装传感器的模拟启用

设备公司

的iSensor

集成。通过提高模拟

器件

的iMEMS

传感器技术与嵌入式信号

处理溶液，所述ADIS16204提供可调数字

在一个方便的格式的传感器数据，可以使用访问

串行外设接口（SPI）。 SPI提供访问

测量双轴线性加速度，根总和

方两个轴的（ RSS ），温度，电源，

辅助模拟输入和事件捕捉缓冲存储器中。易

访问数字传感器数据提供给用户的系统就绪

装置中，缩短开发时间，成本和编程风险。

终端系统的独特之处容纳

轻松通过几个内置的功能，如一个命令

在系统偏压空/偏移校正，连同方便

采样率的控制。

该ADIS16204提供下列嵌入式功能，这

无需使用外部电路，并提供一种简化的

系统接口：

峰值采样和保持

可编程事件记录（双通道， 1K × 16位）

RSS输出（共震在X - Y平面）

可配置报警

辅助12位ADC和DAC

可配置的数字I / O端口

数字自检功能

该ADIS16204提供两种电源管理功能

管理系统级功耗：低功耗模式

和一个可配置关断功能。

该ADIS16204是9.2 mm可提供× 9.2毫米× 3.9毫米

层叠体为基础的栅格阵列（LGA）封装用温

温度范围内的-40 ° C至+ 105°C 。

第0版

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传真： 781.461.3113

ADIS16204

特点................................................. ............................................. 1

应用................................................. ...................................... 1

功能框图............................................... ............... 1

概述................................................ ......................... 1

修订历史................................................ ............................... 2

规格................................................. .................................... 3

时序规格................................................ .................. 5

绝对最大额定值............................................... ............. 6

ESD注意事项................................................ .................................. 6

引脚配置和功能说明............................. 7

建议焊垫几何............................................... 7 .....

典型性能特征............................................. 8

工作原理............................................... ....................... 10

概述................................................. ..................................... 10

加速度传感器................................................ .................... 10

温度传感器................................................ ................... 10

冲击/震动响应.............................................. .............. 10

辅助ADC功能............................................... ............ 11

基本操作................................................ .............................. 12

串行外设接口............................................... .......... 12

数据输出寄存器访问.............................................. ...... 13

编程和控制............................................... ............. 14

控制寄存器概述............................................... ........ 14

控制寄存器结构............................................... ......... 14

全局命令................................................ ..................... 15

校准................................................. .................................. 15

运行控制................................................ ................... 16

状态和诊断............................................... ................ 17

报警检测和事件捕获....................................... 18

二级大会.............................................. ................... 21

外形尺寸................................................ ....................... 22

订购指南................................................ .......................... 22

修订历史

6月7日 - 修订版0 ：初始版

第0版|第24 2

ADIS16204

特定网络阳离子

= 40

C到+ 105℃， VDD = 3.3V时，除非另有说明。

表1中。

参数

加速度计

输出满量程范围

灵敏度

非线性

传感器与传感器校正错误

交叉轴灵敏度

谐振频率

OFFSET

零重力输出

噪音

噪声密度

频率响应

传感器带宽（-3 dB）的

温度漂移

加速度计自检状态

输出变化时主动

温度传感器

输出在25℃

放大系数

ADC输入

决议

积分非线性（ INL ）

微分非线性（ DNL ）

偏移误差

增益误差

输入范围

输入电容

片上电压参考

准确性

参考温度系数

输出阻抗

DAC输出

决议

相对精度

微分非线性（ DNL ）

偏移误差

增益误差

输出范围

输出阻抗

输出建立时间

条件

轴

民

±70

±37

17.125

8.407

0.2

0.1

10赫兹 - 400赫兹，无后置滤波器

2极贝塞尔

| 25℃ - T的

民

|和|吨

最大

25°C|

在25℃下

360

0.2

1.8

400

254

518

1278

2.13

±2

±1

±4

±2

在收购

在25℃下

±40

5千欧/ 100 pF到GND

代码101代码4095

±5

±0.5

02.5

位

最低位

μs

2.5

+10

2.5

440

典型值

最大

单位

毫克/ LSB

度

千赫

毫克/ √Hz的

最低位

LSB /°C的

位

最低位

PPM /

第0版|第24 3

ADIS16204

参数

逻辑输入

输入高电压，V

INH

输入低电压，V

INL

逻辑1输入电流，I

INH

逻辑0输入电流，I

INL

输入电容，C

数字输出

输出高电压，V

输出低电压，V

睡眠定时器

超时时间

启动时间

初始

复位恢复

FL灰内存

耐力

数据保留

转化率

最大吞吐率

最小的吞吐速率

电源

工作电压范围， VDD

电源电流

条件

轴

民

2.0

= VDD

= 0 V

±0.2

2.4

0.4

0.5

130

2.5

20,000

4096

2.066

3.0

正常模式下， SMPL_TIME ≥ 0x08的

≤ 910赫兹），在25℃下

快速模式， SMPL_TIME ≤ 0×07

≥ 1024赫兹），在25℃下

睡眠模式时，在25℃下

3.3

150

3.6

128

0.8

±1

典型值

最大

单位

μA

秒

周期

岁月

SPS

μA

来源

= 1.6毫安

SINK

= 1.6毫安

= 85°C

注意，重力可以影响这个号码，零重力状态假设方向垂直于地球重力两个轴。

自我测试响应变化VDD的平方。

需要注意的是输入为+5 V电压。

通过设计保证。

耐力是合格的按照JEDEC 22标准方法A117 ，并在-40°C测量， + 25 ° C， + 85° C和+ 105°C 。

保持期限相当于在结温（T

）， 55 ℃，按照JEDEC 22标准方法A117 。随着结温的保留时间已减少。

第0版|第24 4

ADIS16204

时序特定网络阳离子

= + 25 ° C，V

= 3.3 V时，除非另有说明。

表2中。

参数

SCLK

数据速率

CSHIGH

DAV

DSU

DHD

SFS

描述

快速模式

普通模式

片选期间，快速模式

片选期间，正常模式

芯片选择高

片选时钟边沿

输出数据在SCLK下降沿有效

前SCLK上升沿数据输入建立时间

后SCLK上升沿数据输入保持时间

数据输出下降时间

数据输出上升时间

CS高SCLK上升沿后

民

0.01

100

1/f

SCLK

48.8

24.4

48.8

典型值

最大

2.5

1.0

单位

兆赫

μs

100

12.5

通过设计保证;典型的规格没有经过测试或保证。

根据采样率的选择。

数据速率

06448-002

SCLK

图2. SPI片选时机

SCLK

SFS

DAV

DOUT

最高位

DB14

DB13

DB12

DB11

DB10

DB2

DB1

最低位

DSU

DIN

W / R

DHD

最低位

06448-003

图3. SPI时序

（利用SPI设置通常认定为第一阶段= 1 ，极性= 1 ）

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