AT89C51RD2 / AT89C51ED2 QualPack
结论：
-
-
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200毫伏后10K周期Vt_wrt移
I_read下降2.5微安的10kcycles后（ - 7 9 ％ ）
在佛蒙特州的条款或电流变化利用系数0位和第7位之间没有很大的差别
4.3.4.2细胞滞留
用途：
来推断电池寿命持续时间在125℃下从烘烤测量在高温下。
测试参数：
LOT ：
9T0930
温度：250 ℃和200 ℃下
持续时间：
92小时
寿命预测：
用于描述存储器单元的保持的方程为：
DVT （ V）= A * （T [H ] ） ^ M * EXP （ -1.05eV / KT [ K] ）
结果：
56.8k细胞 - 9t0930 （ ＃ 24/25 ）
0
LN [ DVT （ V）]
Y = 0,2138Ln （ X） - 2,3118
T（ C）
290,0
270,0
250,0
230,0
210,0
190,0
170,0
150,0
1
10
100
1000
10000
100000
时间（h）
-1
-2
-3
-4
-5
1
10
100
200C
Y = 0,2211Ln （ X） - 4,8026
250C
烘烤时间（h）
测试测量
结论：
外推至125℃ - 10年= Vt的损失小于0.8毫伏
外推寿命
第0版 - 2003年7月
15
