AT89C51RD2 / AT89C51ED2 QualPack
4.4.4 AT89C51ED2工作可靠性计算
下表中，建议在55 ℃时为60 ％的置信水平计算的AT89C51ED2可靠性预测
从收集的过去12个月的过程监控通用的测试数据。
地段
A00648
P01709
A00988B
A01459A
A01460E
A01615B
A01110C
A01110D
A01185F
A01366E
A01679A
A01679B
A00808A
A00943E
A01487Q
A02179
A01435H
A01435K
A02293C
A00960C
A01808A
A01914J
A01584A
设备类型
T89C51CC01
VQFP 44
测试说明
EFR动态寿命试验
LFR动态寿命试验
T89C51CC02
SOIC28
T89C51RC2
PLCC 44
T89C51RB2
PLCC 44
T85C5121
T89C5121
SSOP24
AT89C5114
SOIC20
EFR动态寿命试验
LFR动态寿命试验
EFR动态寿命试验
LFR动态寿命试验
EFR动态寿命试验
LFR动态寿命试验
EFR动态寿命试验
LFR动态寿命试验
EFR动态寿命试验
LFR动态寿命试验
AT89C51SND1 EFR动态寿命试验
AT83C51SND1
VQFP 80
LFR动态寿命试验
AT89C5131
VQFP64
EFR动态寿命试验
LFR动态寿命试验
全球
EFR动态寿命试验
LFR动态寿命试验
步
48h
1000h
48h
1000h
48h
1000h
48h
1000h
48h
1000h
48h
1000h
48h
1000h
48h
1000h
48h
-
结果
0/3787
0/266
1/1260
0/280
0/1856
0/100
0/300
0/100
0/684
0/100
0/1887
0/200
1/550
0/170
0/350
0/100
一万零六百七十四分之二187 ppm的
0/1316
4.4配合
消费热点在DCLK
输入缓冲器
造成的划伤1 IPD漂移
金属1
评论
20
第0版 - 2003年7月
